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由于二次电光效应
可见,当晶体沿 x1 方向加单向应力时,折射率椭球由旋转球变成了椭球,主轴仍为 x1 、x2、x3 ,立方晶体变成双轴晶体,相应的三个主折射率为: (2) 43m、432和m3m立方晶体受到平行于立方体轴 (例如x1方向)的单向应力作用 这种情况与上述情况基本相同,只是由于这类晶体的Π12=Π13,所以: 即晶体由光学各向同性变成了单轴晶体。 5.1.3 晶体的二次电光效应 可以存在于所有电介质(固体、液体和气体)中,某些极性液体(如硝基苯)和铁电晶体的克尔效应很大。 所有晶体都具有二次电光效应。但是在无对称中心的20 类晶体中,线性电光效应比二次电光效应显著的多,所以这类晶体的二次电光效应一般不予考虑。 在具有对称中心的晶体中,最低阶的电光效应就是二次电光效应,我们感兴趣的是属于立方晶系的那些晶体的二次电光效应。因为这些晶体在未加电场时,在光学上是各向同性的,这一点在应用上很重要。 如前所述,二次电光效应的一般表达式为: ?Bij = hijpqEpEq i, j, p, q =1, 2, 3 Ep、Eq是外加电场分量;[hijpq]是晶体的二次电光系数(或克尔系数),是四阶张量。 1. 晶体二次电光效应的理论描述 其中,Pp,Pq是晶体上外加电场后的极化强度分量,[gijpq]也叫二次电光系数,一般手册给出的是 [gijpq]。 可以证明,[hijpq]和[gijpq]都是对称的四阶张量,均可采用简化下标表示,即 ij→ m , pq→ n , m、n的取值范围是从 1 到 6。于是, 四阶张量的克尔系数可以从九行九列的方阵简化成六行六列的方阵。 人们习惯于将[?Bij]与晶体的极化强度联系起来,表示为: ?Bij = gijpqPpPq i, j, p, q = 1, 2, 3 且当 n =1, 2, 3 时 当 n =4, 5, 6 时, 简化表达式: (5.1-73) (5.1-74) 2. m3m晶类的二次电光效应 属于m3m晶体的有KTN(钽酸铌钾),TaO3(钽酸),BaTiO3(钛酸钡),NaCl(氯化钠),LiCl(氯化锂), LiF(氟化锂),NaF(氟化钠)等。 未加电场时,这些晶体在光学上是各向同性的,折射率椭球为旋转球面: 当晶体外加电场时,折射率椭球发生变化,其二次电光效应可表示为: 由此得: 将上面分量代入折射率椭球的一般形式,即可得到: (5.1-79) 讨论一种简单的情况:外电场沿 x3 轴 [011] 方向作用于晶体,即E1= E2= 0 , E3= E 。 立方晶体的电场与极化强度间的关系为: Pi = ?0 ? Ei i = 1, 2, 3 所以P1 = P2= 0 , P3= ?0 ? E ,则 显然,当沿 x3 方向外加电场时,由于二次电光效应,折射率椭球由球变成一个旋转椭球,其主折射率为: 当光沿 x3 方向传播时无双折射现象发生;当光沿 x1 方向( [100]方向)传播时,通过晶体产生的电光延迟为: 相应的半波电压: 5.1.4 晶体电光效应的应用 在外电场的作用下电光晶体相当于一个受电压控制的波片,改变外电场,便可改变相应的二特许线偏振光的电光延迟,从而改变输出光的偏振状态。正是由于这种偏振状态的可控性,其在光电子技术中获得了广泛应用。 1. 电光调制 光调制技术——将信息电压(调制电压)加载到光波上的技术。 电光调制 —— 利用电光效应实现的调制。 典型的电光强度调制器 电光晶体(如KDP)放在一对正交偏振器之间,对晶体实行纵向运用,则加电场后的晶体感应主轴 x1?、x2? 相对晶轴 x1、x2 方向旋转 45?,并与起偏器的偏振轴 P1 成 45? 夹角。 由正交偏振器偏光干涉,当 晶片? = 45? 时,通过检偏器输出的光强 I 与通过起偏器输入的光强 I0 之比为 : 光路中未插入1/4 波片时,上式的 ? 是晶体的电光延迟。由 (5.1-31) 、(5.1-32) 有: 则: ——为光强透过率(%) 则透过率为: 该式说明,一般的输出调制信号不是正弦信号,它们发生了畸变。 如果外加电压是正弦信号: 在光路中插入 1/4 波片,则光通过调制器后的总相位差是 ( ?/2+? ),因此,通过检偏器输出的光强 I
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