8,二X射线应力测定题稿.ppt

* * 第七章 应力的测定 第一节 内应力的定义： 材料的内应力系指当产生应力的因素消失时（如外力已去除、温度已达均匀、相变已停止），由于不均匀的塑性变形或相变使得材料内部依然存在并自身保持平衡的应力。 残余应力的分类 宏观应力（第一类应力） 在物体较大范围内存在并保持平衡的应力。衍射线产生位移 微观应力（第二类应力） 在晶粒范围内存在并保持平衡的内应力。衍射峰宽化 超微观应力（第三类应力） 在若干原子范围存在并保持平衡的内应力。 衍射线减弱 X射线法测定残余应力的优点 是非破坏性检验方法； 可测定表层（10-35?m）的应力； 可测局部小区域的应力； 可测量纯粹的宏观残余应力； 可测定复相合金中各个相的应力。 第二节 宏观应力测定基本原理 特别提示：X-射线法是通过测定弹性应变来求得宏观应力值的 思路：无应力时，同族晶面的面间距在不同方位是相同的；有宏观应力时，同族晶面的面间距在不同方位是有规律变化的；建立待测应力与空间方位上的应变的关系式，就解决问题的关键。 ?? ? ??? ??? ? ? K — 应力常数， M —（2?-sin2?）直线的斜率 令 0o?45o法 测定0o和45o两个方向上的的某（HKL）晶面的衍射角2? 如何获得 M （即 2? — sin2?直线的斜率）？ sin2?法 测定0o— 45o内几个方向上的某（HKL）晶面的衍射角2? ?3 ?3 ?? ?? O A ?? , ?? ? B 0.5 sin2? 0.1 0.2 0.3 0.4 15? 30? 45? 2? 0 0? M 25? 斜率M ? 0，?为正值，拉应力 斜率M ? 0，?为负值，压应力 第三节 宏观应力测定方法 M 在测定方向平面内，至少测定两个不同?方向上的衍射角2??，求出2??—sin2??直线的斜率 要求利用衍射几何保证获得所需方向的衍射角2?? 侧倾法 同倾法 2?扫描 N N* ? ?x ? ? N N * （HKL） ? ? 2?扫描 同倾法 侧倾法 测量方向平面（N-N*）与X射线扫描平面重合 测量方向平面（N-N*）与X射线扫描平面重合 在理论上的2?0附近做?-2? 联动扫描 将样品单独从?0位置上顺势针转动?=45o，探测器仍在理论2 ?0 附近做?-2?联动扫描 ?方位角的含义为HKL晶面法线与样品表面法线的夹角 入射X射线 衍射晶面法线 样品表面法线 ?0 探测器 2?0 ? = 0o HKL晶面 N N* ?0 探测器 2?0 ? = 45o HKL晶面 N N* 衍射晶面法线 样品表面法线 45o 同倾法 （1）固定?法 — X射线衍射仪法 2?扫描 N N* ? ?x 上述方法，由于直接测定了衍射晶面?的方位，故一般称之为固定?法 特点： 第一次测试时（?=0?），入射线与反射线相对样品表面呈对称分布—理想聚焦； 第二次入射时（ 如?=45? ），入射线与反射线呈对不称分布，衍射几何偏离衍射仪聚焦条件，使得衍射线性宽化和不对称，影响了衍射角测试精度。 矫正方法：（1）小的发散狭缝；（2）平行光束（使用索拉狭缝） ?x N N* （2）固定?0法 — X-射线应力仪法 对于大型工件，难以在衍射仪上测定。该方法就是适应大型工件而建立的，专门用于大型工件残余应力的测定—X射线应力仪。 特点：测试时入射光源和工件均固定不动，计数管单独扫描。 ?0是入射线与样品法线的夹角，由于测定时固定?0不动，故称固定?0法 。 2?扫描 N N* ? ?x ? ? ?0 特点： Δ 第一次测试时?0=0?, 此时 ? = ?0+? =? = 90 - ?, 入射线与反射线相对样品呈不对称分布； Δ 第二次入射时?0=45?, 此时? = ?0+? = 45?+? =45? + 90 - ?=135?- ?, 入射线与反射线相对样品呈对不称分布 ?x N N* HKL 衍射线 ? ? ?0=0 ?x N N* HKL 衍射线 ?0=45? ? 入射线 ? ?0=45? 无论是固定?法还是固定?0法，选取晶面方位角的方式均可采用： （1）0?-45?法 （2）sin2?法 注意一下几点： （1）两种方法方位角?的差异。 （2）过去一般选0、15、30、45? 现在选0、25、35、45? sin2? ?3 ?3 ?? ?? O A ?? , ?? ? B 0.5 0.1 0.2 0.3 0.4 15? 30? 45? 2? 0 0? M 25? 倾侧法 N N * （H