附件-水中金属及微量元素检测方法－感应耦合电浆原子发射光谱法.doc

水中金屬及微量元素檢測方法－感應耦合電漿原子發射光譜法 中華民國93年4月29日環署檢字第 0930030309 號公告自中華民國93年8月15日起實施NIEA W311.51B ::: 一、方法概要 （一）感應耦合電漿原子發射光譜法（Inductively Coupled Plasma Atomic Emission Spectrometry, ICP - AES）對水樣中多元素的分析，係利用高頻電磁感應產生的高溫氬氣電漿，使導入電漿中的樣品受熱而起一系列的去溶劑、分解、原子化 / 離子化及激發等反應。 其分析的依據，係利用被激發的待分析元素之原子 / 離子所發射出的光譜線，經由光譜儀的分光及偵測，即可進行元素之定性及定量。 （二）本方法可利用同時式（Simultaneous）－ 或稱連續式（Sequential），及側向（Radial/Side-on）－ 或稱軸向（Axial / End - on）觀測之感應耦合電漿原子發射光譜儀，進行水樣中多種元素的同時分析。本方法具有快速、靈敏及精密的分析特性。測定時，為補償因光譜背景值之不同所導致的誤差，儀器必須具有背景校正的功能。背景校正所選定的波長，需位於待分析元素的譜線附近。一般依據光譜干擾的程度，可在分析元素譜線的左右任選一方或兩方，且此選定的位置需不受到光譜的干擾。 二、適用範圍 　　本方法適用於飲用水、地面水、地下水及特定類工業廢（污）水（包括電鍍工業及金屬工業等）中鋁、銀、鎘、鉻、銅、鐵、鉛、鎂、錳、汞、鎳、硒、鋅及鋇等 14 種元素之可回收總量及溶解量之測定。除以上元素外，若經適當的驗證程序確認可行，本方法亦可適用於其他元素的分析。 　　對汞、硒或其他元素，若所使用的儀器技術無法達到如表一所示之方法偵測極限或法規所要求之管制濃度時，則必須經適當的樣品前處理後，再行測定；或徵詢儀器廠商購置效率較高之樣品導入裝置（例如超音波霧化器、硒化氫產生器或冷蒸氣汞原子產生器等），以提升偵測能力。唯在使用該類裝置時，需先完成該方法之驗證程序後，始得進行樣品之分析。 三、干擾 　　本方法對原水樣或經濃縮之水樣的分析，其中所含之總溶解性固體量必須小於 0.2 %（w / v），以避免儀器測定時干擾的發生。 　　使用感應耦合電漿原子發射光譜儀進行樣品分析時，其分析結果常會受到許多干擾因素的影響，而導致誤差的產生。常見的干擾可分為兩類，分別為光譜性干擾及非光譜性干擾，以下就其發生原因及解決方式作一說明。 （一）光譜性干擾 1. 譜線重疊 　　其發生的原因有兩種，其一是因基質元素與待分析元素的測定波長相同，而造成譜線完全重疊之干擾；另外一種情況則是當干擾元素與待分析元素的波長相近，且干擾元素濃度很高時，造成譜線變寬，而與待分析元素之譜線產生部份重疊的干擾。此類型之干擾，可以藉由選擇元素之其他測定波長、使用干擾校正係數或儀器廠商所開發之電腦自動譜線干擾解析軟體來進行校正。 2. 寬帶重疊 　　當樣品基質、溶劑或大氣導入電漿時，所形成之分子離子（例如 N2+，OH-，NO+，CN- 等）或未完全解離的化合物（例如 AlO+ 等），會導致寬帶分子發射譜線的產生，因而造成待分析元素背景的提升。此類寬帶重疊的干擾，一般可利用背景校正法予以克服。 3. 背景效應 　　由於電漿中離子或原子間的連續放射或結合放射等原因，導致背景之飄移變化，以致對待分析元素的測定譜線造成干擾。一般可利用背景校正法來作校正。 4. 自吸收效應 　　當含高濃度待分析元素之樣品導入電漿時，分佈於電漿溫度較低區域的元素，會吸收由溫度較高區域的激態元素所放射之譜線，而造成該元素分析濃度偏低的結果。可藉由樣品稀釋或提高電漿溫度，來避免此效應的發生。 5. 迷光輻射 　　主要係由於高濃度元素所產生的大量發射譜線，在光譜偵測系統中產生迷光，造成背景飄移的效應。一般可利用樣品稀釋或背景校正法來作校正。 （二）非光譜性干擾 1. 物理性干擾 　　因樣品與標準溶液間物理性質（如黏度、表面張力或密度等）的差異，導致兩者在電漿系統中有不同的輸送效率，影響分析訊號而形成干擾。一般可利用樣品稀釋、內標準品或用標準添加法來避免此類干擾。 2. 阻塞干擾 　　在分析過程中，因樣品溶液所含有的高濃度鹽類或懸浮微粒，會逐漸阻塞燄炬內管或霧化頭，造成干擾效應。此類干擾可將基質稀釋或使用耐高鹽類的霧化頭配合內徑較大的注入內管來避免。 3. 記憶效應干擾 　　樣品中待分析元素或基質，由於元素特性或濃度太高之原因，導致樣品殘留於管路中，而對於下一個樣品的分析造成干擾。為避免此類干擾的發生，在分析流程中須對管路進行清洗，並分析空白溶液，以確認管路中待測元素的殘留是否已被清洗乾淨。 4. 游離干擾 　　當易游離元素（鹼金族或鹼土族）的濃度太高時，會大量游離產生電子，而影響