附录-中国有色金属标准质量信息网.doc

附件： 近几年有标准起草任务的单位 （半导体材料分标委会，SAC/TC203/SC2） 序号 项目名称 起草单位 备注 多晶硅企业单位产品能源消耗限额 洛阳中硅高科技有限公司、多晶硅制备技术国家工程实验室、中国恩菲工程技术有限公司 已列计划 用椭圆对称法测量硅衬底上绝缘体厚度及折射指数的试验方法 中国计量科学研究院 已列计划 碲化镉 清远先导稀有材料有限公司、山东省阳谷祥光铜业有限公司 已列计划 锗单位产品能源消耗限额 云南临沧鑫圆锗业股份有限公司 硅材料原生缺陷图谱 有研半导体材料股份有限公司 关于硅片平坦表面的表面粗糙度的测量指南 有研半导体材料股份有限公司 300mm硅单晶 有研半导体材料股份有限公司 300mm硅单晶抛光片 有研半导体材料股份有限公司 300mm硅单晶切割片和磨削片 有研半导体材料股份有限公司 硅片平整度、厚度及厚度变化测试 自动非接触扫描法 上海合晶硅材料有限公司 电子级三氯氢硅化学分析方法 电感耦合等离子体质谱仪测定钴、铬、铜、铁、锰、镍、钒、硼、铝、磷、钼、砷和锑量 南京锗厂有限责任公司 用区熔和光谱的方法评价多晶硅锭的方法 四川新光硅业科技有限公司 再生硅料分类和技术条件 西安隆基硅材料股份有限公司 电子级三氯氢硅 南京锗厂有限责任公司 单晶锗单位产品能源消耗限额 南京锗厂有限责任公司 高纯铟 南京锗厂有限责任公司 太阳能级多晶硅块 江西赛维LDK新能源有限公司 太阳能级多晶硅片 江西赛维LDK新能源有限公司 高纯锑化学分析方法 砷量的测定 峨眉半导体厂、锡矿山闪星锑业有限责任公司 高纯锑化学分析方法 锌、银、铜、镉、镍、铅、镁、金、铁和锰量的测定 峨眉半导体厂、锡矿山闪星锑业有限责任公司 高纯锑化学分析方法 铋量的测定 峨眉半导体厂、锡矿山闪星锑业有限责任公司 高纯锑化学分析方法 硫量的测定 峨眉半导体厂、锡矿山闪星锑业有限责任公司 高纯锑化学分析方法 硒量的测定 锡矿山闪星锑业有限责任公司、峨眉半导体厂 单晶硅炉碳/碳复合材料坩埚 湖南金博复合材料科技有限公司 氢化炉碳/碳复合材料U形发热体 湖南金博复合材料科技有限公司 通过论证 单晶炉碳/碳复合材料保温筒 湖南金博复合材料科技有限公司 通过论证 单晶炉碳/碳复合材料导流筒 湖南金博复合材料科技有限公司 通过论证 液氯中碳含量的测定方法 新光硅业科技有限责任公司 通过论证 硅粉中磷、硼杂质的测定方法 新光硅业科技有限责任公司 通过论证 多晶硅还原炉和氢化炉尾气成分的测定 新光硅业科技有限责任公司 通过论证 电感耦合等离子质谱法测定多晶硅体内金属杂质 新光硅业科技有限责任公司 通过论证 氯硅烷中碳杂质的测定方法 新光硅业科技有限责任公司 通过论证 高纯无水三氧化二硼 南京金美镓业有限公司 通过论证 高纯三氧化二镓 南京金美镓业有限公司 通过论证 太阳能电池用锗衬底片 南京中锗科技股份有限公司 通过论证 三氯氢硅中其他氯硅烷含量的测定气相色谱法 南京中锗科技股份有限公司 通过论证 锗粒 南京中锗科技股份有限公司 通过论证 西门子法多晶硅用三氯氢硅 江苏中能硅业科技发展有限公司 通过论证 多晶硅用三氯氢硅原料化学分析方法- SiHCl3、B、P、Al、Fe、C的测定 方法1 气相色谱法 方法2电感耦合等离子体发射光谱法 方法3 气质联用法 江苏中能硅业科技发展有限公司 通过论证 氯硅烷中痕量有机碳含量分析 江苏中能硅业科技发展有限公司 通过论证 太阳能电池级硅片切割线痕和表面粗糙度的测试方法 江苏协鑫硅材料科技发展有限公司 通过论证 太阳能电池级硅片翘曲度和波纹的测量方法 江苏协鑫硅材料科技发展有限公司 通过论证 太阳能级硅片厚度及厚度变化的测量方法 江苏协鑫硅材料科技发展有限公司 通过论证 蓝宝石单晶衬底抛光片 协鑫硅材料等 通过论证 采用ICP-MS分析精制三氯氢硅中杂质含量 峨嵋半导体材料研究所 通过论证 采用高质量分辨率辉光放电质谱仪测定太阳能级硅多晶体杂质 峨嵋半导体材料研究所 通过论证 高纯铋 峨嵋半导体材料研究所 通过论证 采用高质量分辨率辉光放电质谱仪测定高纯铋中杂质含量 峨嵋半导体材料研究所 通过论证 高纯三氧化二镓化学分析方法 化学光谱法测定杂质含量 峨嵋半导体材料研究所 通过论证 高纯铝化学分析方法辉光质谱法测定高纯铝中钾、锂、钠、钍、铀、镁、钙、铬、铁、镍、锌、硅、锡、磷等痕量杂质 北京有色金属研究总院 通过论证 高纯铝化学分析方法钴、钼、镉、铟、锡、锑、铂、砷量的测定电感耦合等离子体质谱法 北京有色金属研究总院 通过论证