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SPC实用教材 QA组 何谓SPC？ SPC： Statistical Process Control 统计过程控制 使用各种统计工具，对过程进行监控，如常用的P图、X-R图等 作SPC的目的是什么？ 在管理部门经常靠检查或重新检查工作来找出错误，这种方法是浪费的。一种在第一步就可以避免生产无用的输出，从而避免浪费的更有效的方法是-----预防。 要在第一次就把工作做好，须研究下述问题： 什么是过程控制系统？ 变差是如何影响过程输出的？ 统计技术是如何区分一个问题实质是局部的还是涉及到整个系统的？ 等等 作SPC的目的是什么？ 简单的讲：SPC的目的就是通过将数据进行处理，期望从中发现过程存在的变差，并据此作好预防的工作，减少浪费。 影响变差有两种原因： 普通原因 特殊原因 过程的趋势 如果仅存在变差的普遍原因， 随着时间的推移，过程的输出 形成一个稳定的分布并可预测 过程的趋势 过程控制 过程的趋势 过程控制 过程控制 避免过度控制或擅自改变，以及控制不足。 过程控制系统在出现变差的特殊原因时要提供统计信号， 于不存在特殊原因时避免提供错误信息。 过程控制系统有特殊原因出现时，要采取适当的措施来消除它， （如果措施有用，可永久保留）。 过程能力 由造成变差的普通原因，来确定处于统计控制状态下的制造过程，其数据就可证明过程能力。 内外部客户要较关心的是过程的输出如何连系到他们的要求，他们较不关心过程的变差。 选择控制方法 选择控制方法 计量型数据一般可选用： X-R控制图、X-S控制图等 计数型数据一般可选用： P图(不良率控制图)、nP图(不良数控制图 X-R控制图 X-R控制图 X-R控制图 X-R控制图 X-R控制图 计算控制界限： 1.计算R和X： 在研究阶段计算：R= X= 2.计算控制限： UCLR　=　D4*R LCLR　=　D3*R UCLX　=　X+A2R LCLX　=　X-A2R X-R控制图 超出控制界限的点：出现一个或多个点超出任何一个控制界限是该点处于失控状态的主要证据 X-R控制图 X-R控制图 X-R控制图 控制限的沿用和修改： 在进行初次研究阶段，控制限已经界定，一般情况下，应沿用控制限，因此在SIC自定的计算表格中，在数据输入的界面中需要输入“控制限”，这里需要输入的就是在初始研究阶段计算出的控制限，而在图表中也会根据每月所采集的数据进行计算，得出一个控制限，这个控制限仅作为比较用。真正描在控制图上的控制限还应沿用初始研究时得到的控制限。 但不意味着控制限永远不改，在重大的变更后需要重新评估控制限、过程能力，在需要的情况下可以变更控制限。 过程能力 几个名词： σ：标准偏差，公式为σs= Σ(Xi-X)/(n-1) 同时可以使用R来推算： σ=R/d2 过程能力 几个名词： CP ：能力指数，只考虑过程能力，不考虑过程的偏移 CP=(USL-LSL)/(6╳σR/d2) PP ：性能指数，只考虑过程性能，不考虑过程的偏移 PP=(USL-LSL)/(6╳σs) CPk：过程中的能力指数，同时考虑过程的偏移和过程能力 CPk=Min[CPU=(USL-X)/(3╳σR/d2)； CPL=(X-USL)/(3╳σR/d2)] pPk：过程中的性能指数，同时考虑过程的偏移和过程能力 pPk=Min[(USL-X)/3╳σS； CPL=(X-LSL)/3╳σS)] 过程能力 能力指数的运用： 一般来说，Pp、Ppk用来对过程的初始能力进行评估，Cp、Cpk用在对稳定过程的长期能力进行评估，判断如下： P图 P图是一种计数型数据用的控制图，是用来测量在一批检验项中不合格(不符合或所谓的缺陷)项的百分数。 P控制图 P图 P图 计算控制限 1.计算平均不良率P ： P = 2.计算控制限： UCLp = P+3 P(1-P) / n LCLP = P-3 P(1-P) / n P图 计算控制限： 如果子组容量一致的话，那么控制限是一致的，如果子组容量相差不超过±25%的话，也可以使用平均样