ICT测试程式准则.docVIP

．目录． 文 件 修 订 履 历 表 2 1. 目的 3 2. 适用范围 3 3. 权责 3 4. 相关参考文件 3 5. 名词定义 3 6． 标准 3  文 件 修 订 履 历 表 序号 版次 文件编号 制／修订内容说明 制/修订日期 作成 审查 核准 1 1.0 首次设定 2012.02.15 林凡义 目的 为使本公司ICT测试程式标准化，统一化，特订定本标准。 适用范围 凡使用于本公司ICT测试程式均适用之。 权责 制作单位：ICT治具厂商 维护单位：ICT工程师 使用单位：ICT测试员 相关参考文件 无 名词定义 无 标准 6.1 测试参数 6.1.1程序命名方式板号+小管号. 6.1.2自动存盘功能设定10片. 6.1.3 重测次数设为3次. 6.1.4 First pin为1,Last pin设定为SWB(256)的整数倍并大 于下针盘的最后一针点数. 6.1.5 OPS档设定原则为2(15 55 85),“短路Raw Test-1”字段 打勾,但可视情况调整. 测试不良报表打印最大行数设为20,打印方式为按F12打印 6.2 Open/Short Learning 6.2.1若GND与VCC为同一个Short Group时,在MDA程序加阻抗测试,期望阻值依机板阻值而订,误差范围-1%,-10%;一般使用MODE 2, GND pin一般置于Hi-pin,VCC pin一般置于Low-pin. 6.3 测试数据编辑 6.3.1 程序需对照BOM表确认是否有漏(错)KEY或SKIP错误之现象 6.3.2 确认不良零件区块(横行/纵行)之设定是否与点图相符. 6.3.3 Board View显示零件面并调整与M/B 方向一致 6.3.4 零件SKIP时,需注明原因,/NC;/NP;/C;/R;/Q;/BP;/M;等 6.3.5 所有零件按照J→R→C→X→L→F→D→Q→U排序 6.3.6 零件位置上已lay out短路线,若BOM无零件,则不外加测试(零件名称前不加J) 6.3.7 电阻 按照零件值排序(零件名称前不加J) 电阻值0Ω~10Ω(不包含10Ω)使用Jump方式测试 电阻在10Ω~1KΩ(不包含1KΩ)误差范围+40%,-40% 排阻的阻抗低于1KΩ(不包含1KΩ)误差范围+40%,-20% 电阻值≧1KΩ误差范围+10%,-10% 当电阻并联D,Q,IC时,必须使用MODE 1或MODE 2 电阻值≧1MΩ时,一般使用MODE2误差范围+40% -60% 热敏电阻，一般使用MODE 1，误差范围+40% -90% 蜂鸣器(BUZZER)以阻抗方式测试,期望值42Ω, 误差范围+40%,-40% 6.3.8 电容 按照零件值排序 电容值33P时,全部SKIP,并注明/BP(example:C315/BP) 容值≦2000P时,需将此VCC或GND至于Hi-Pin,且需用MODE2,不加隔离点 40uF(含)以上之电解电容,一般使用MODE 8测试 电容1uF与0.1uF误差范围+80% -60% 电容1uF与0.1uF有并联情况时,误差范围 +80% -60% 电容2.2uF 0.01uF之间的其它电容,误差范围+80% -60% 电解电容(CE)若有并联(CE),误差范围+30% -10% ,开启一个STEP即可 电解电容(CE)若无并联(CE),误差范围+30% -30% 其它电容误差范围+80% -60% 小电容并联大电容时,小电容之测试STEP要Skip 当SMT电容与DIP电容有并联时,合理优化下限以提高程序对零件缺件的可卡性. 6.3.9 震荡器 A. 震荡器使用电容方式测试 6.3.10 电感 A.电感使用Jump方式测试,MODE 0 ,Delay 30 6.3.11二极管 二极管,误差范围+30% -30% ,一般使用MODE 1, 当量测值小于0.3V时须加Delay 30 二极管需加测一反向STEP,标准值及实际值设1.5V,误差范围 –1 –