《茶山牌》超低碳硫分析专用坩埚的质量控制和应用.pdfVIP

中国·北京 中国金属学会第十三届分析测试学术年会 2006年10月 13eijing·Claim The13thATCord．ofCSM October．2006 ≯誓喘 圈 《茶山牌》超低碳硫分析专用坩埚的 糠∥ 质量控制和应用 文作为 (醴陵市茶山万财坩埚瓷业有限公司，湖南醴陵412221) 摘要：随着科学技术的不断发展，为了更好地提供和供您参考选择高频红外碳硫分析专用坩 埚，超低碳坩埚，现将我司研制的坩埚的质量控制方法和使用方法介绍如下： 的收缩；(3)通过煅烧处理掉原料中存在的游离 1质量控制部分 碳；(4)排除原料粉中仍可能存在的Na20和K20 1．1科学配方 30％Si0228％，高岭土15％，石英石21-120)。确保成型前原料碳质量分数小于 A1203 4％，自制高温强化泥20％，滑石粉3％。 0．001％硫小于0．001％。 1．2生产和检测工艺流程 1．2．3成型设备：150T全自动等静油压机，自 选料—一成型前的原料处理—一配料—，成 动锥形混料机，合金钢模。成型规格：27ram× 型一烘干一烧结一成品检验一包装一 出厂检验(商检) 在各种标准预制原料中加入209／L的羧甲 1．2．1选料：即原料的杂质处理设备：球磨机， 基纤维(占4％)、蒸馏水(占7％)，用自动锥形混 空炼泥机，酸洗过滤塔，拌机，磁选过滤机，振动筛 料机将将料混匀，用压机模压成型。 1．2．4烧结设备：富氧隔燃式自控推板窑。理 理化指标标准：颗粒20目20％，80目30％，120 —300目，50％。 化指标：温控级：900，．1200，1450(2。半成品：烘 由于每种原料进厂都是固相块状物，都含有 干好的坩埚坯。烧结时各温控区间的烧结时间如 一定比例的杂质，如碱金属氧化物K20，Na20和下： 常温-900C．温区5h 碱土金属氧化物CaO，MgO，BaO，Fe203等，因此 需要除掉对产品结构有影响的杂质。去除杂质分 900～120012．温区8h 三个步骤：第一步为物理处理。采用大型球磨机 1200℃～1450(2．温区8h 将原料粉碎成20目以下的颗料；第二步为化学处 1450C～1150(2．一1450．温区10h 理：将这些20目以下的颗料进行酸洗；第三步将 1450(2～常温区8h 酸洗好的原料进行第二次球磨后用真空炼泥机制 成标准所需的颗粒原料。 1．2．2成型前的原料处理设备为富氧隔燃式 龙窑，电阻炉，高频红外碳硫分析仪。理化指标： 温控级850(2，1000*C，1450(2，1600(2． 成型前必须对A1203和SiQ粉料加入添加 剂H3803在富氧隔燃龙窑中煅烧4h目的是：(1) 使7一A1203(2)一a—A1203，J3一AJ20b一口一 烧结曲线如上图 A1203，7一Siol一口一Siol—a—Si02；(2)使 原料颗粒致密化及结晶长大而减少在以后烧结中 ．--——632—-—— 2006年lO月 中国金属学会第十三届分析测试学术年会 中国·北京 October。2006 The13d1AT(b11f．of(SM Beijing·China 1．2．5成品检测