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材料表面现代分析方法课程论文 1 背景 材料科学是一门实验性的学科，对材料成分，组织，结构，形貌的检测是必不可少的，能够有效的分析材料特征的方法有：中子衍射、电子衍射、红外光谱、X射线衍射。其中X射线衍射和电子衍射具有无损试样的优点，因此不仅在材料学科应用广泛，而且已经渗透到物理、化学、地球科学、以及各种工程技术科学中，成为一种重要的实验方法和结构分析手段。 2 XRD的原理及应用 2.1 X射线的产生和性质 通常获得X射线是利用一种类似热阴极二级管的装置，用一定材料制作的板状阳极（靶）和阴极（灯丝）密封在一个玻璃-金属管壳内，阴极通电加热，在阳极和阴极间加以直流高电压U（约数千伏），则阴极产生大量热电子e将在高压电场作用下飞向阳极，在它们与阳极碰撞的瞬间产生X射线（如图1所示），仪器检测发现有连续X射线谱和特征X射线谱两类。X射线是一种波长很短的电磁波，波长约0.01-10nm范围内，用于衍射分析的X射线波长范围为0.05-0.25nm。 图1.X射线产生装置 2.2 X射线衍射原理 用于衍射分析的X射线波长范围为0.05-0.25nm之间，这与晶体中的原子间距数量级相同，因此可以用晶体作为X射线的天然衍射光栅，这就使得用X射线衍射进行晶体结构分析成为可能。当X射线沿某方向入射某一晶体的时候，X射线通过晶体时，晶体中原子的电子在电磁场的作用下将产生受迫振动，其振动频率与入射X射线的频率相同。由于散射线与入射线的波长和频率一致，位相固定，在相同方向上各散射波符合相干条件，晶体中每个原子的核外电子产生的相干波彼此发生干涉。当每两个相邻波源在某一方向的光程差（△）等于波长λ的整数倍时，它们的波峰与波峰将互相叠加而得到最大限度的加强，这种波的加强叫做衍射，相应的方向叫做衍射方向，在衍射方向前进的波叫做衍射波。△=0的衍射叫零级衍射，△=λ的衍射叫一级衍射，△=nλ的衍射叫n级衍射。n不同，衍射方向也不同。在晶体的点阵结构中，具有周期性排列的原子或电子散射的次生X射线间相互干涉的结果，决定了X射线在晶体中衍射的方向，所以通过对衍射方向的测定，可以得到晶体的点阵结构、晶胞大小和形状等信息。 空间点阵可以看成是互不平行的三组直线点阵的组合，也可以看作是由互相平行且间距相等的一系列平面点阵所组成。劳厄和布拉格就是分别从这两个角度出发，研究衍射方向与晶胞参数之间的关系，从而提出了著名的劳厄方程和布拉格方程。伦琴发现X射线之后，1912年德国物理学家劳厄首先根据X射线的波长和晶体空间点阵的各共振体间距的量级，理论预见到X射线与晶体相遇会产生衍射现象，并且他成功地验证了这一预见，由此推出了著名的劳厄定律：当X射线照射晶体时，若要在某个方向上能获得衍射加强，必须满足在晶体中三个相互垂直的方向上相邻原子散射线的波程差为波长的整数倍。此后不久布拉格在劳厄试验的基础上，导出了著名的布拉格定律：，几何原理如图2所示。为半衍射角；d为晶面间距；λ为衍射波长；n为衍射级数。布拉格方程揭示了在晶体中产生衍射的条件。 图2. 布拉格方程几何原理 2.3 XRD物相分析 2.3.1 物相定性分析 不同的多晶体物质的结构和组成元素各不相同，它们的衍射花样在线条数目、角度位置、强度上就呈现出差异，衍射花样与多晶体的结构和组成有关，一种特定的物相具有自己独特的一组衍射线条（即衍射谱），反之不同的衍射谱代表着不同的物相+ 若多种物相混合成一个试样，则其衍射谱就是其中各个物相衍射谱叠加而成的复合衍射谱+ 因而，我们可以通过测定试样的复合衍射谱，并对复合衍射谱进行分析分解，从而确定试样由哪几种物质构成。 2.3.2 物相定量分析 物相定量分析的任务是用X射线衍射技术，准确测定混合物中各相的衍射强度，从而求出多相物质中各相的含量。其理论基础是物质参与衍射的体积或者重量与其所产生的衍射强度成正比，因而，可通过衍射强度的大小求出混合物中某相参与衍射的体积分数或者重量分数，从而确定混合物中某相的含量。 例如，向微米级Si3N4基体中加入Si3N4和TiC纳米颗粒, 利用热压烧结工艺得到了性能优良的纳米复合陶瓷材料Si3N4 /TiC,对其进行物相分析如下图3所示： 从图中可以看出纳米复合陶瓷材料Si3N4 /TiC中有， , 三相存在。 2.4 晶粒尺寸分析 多晶体材料的晶粒尺寸是影响其物理、化学等性能的一个重要因素! 用X射线衍射法测量小晶粒尺寸是基于衍射线剖面宽度随晶粒尺寸减小而增宽这一实验现象，这就是1918年谢乐首先提出的小晶粒平均尺寸（D）与衍射线真实宽度之间有的数学关系式，该式也称为谢乐公式，其中D为晶粒的平均尺寸；K为接近1的常数；λ为特征X射线衍射波长；为衍射线剖面的半高宽，