电子器件温度控制的技术.docVIP

红外诊断技术在电力一次设备状态检修中应用广泛,红外测温发现了许多隐性缺陷,如一次设备的线夹接头发热、闸刀接触不良发热、内部绝缘损坏发热等设备缺陷,红外诊断技术以直观的图像、强大的技术分析软件成为一次设备最有效的在线监测工具之一。但红外诊断技术目前在二次设备状态检修上应用不多,主要原因是:二次设备工作在小电流环境下,负荷较稳定,发热情况不突出,没有引起运行检修人员足够的重视。2007年至今,衢州电力局在二次设备状态检修中探索性使用红外诊断技术,发现了许多二次设备隐性缺陷,积累了一定的应用经验。1红外诊断技术发现二次设备隐性缺陷统计分析为研究红外诊断技术在二次设备状态检修中的应用情况,对衢州电力局2007-2008年红外诊断技术发现的二次设备缺陷进行统计分析,见表1。从缺陷统计分析,可以得出以下初步结论:(1)红外诊断在所用变电源、直流电源、主变通风回路故障、TV/TA二次回路故障等缺陷表1应用红外技术发现缺陷统计红外诊断技术发现的二次设备缺陷统计分析实际发生缺陷/次红外诊断发现/次微机保护装置TV/TA二次回路主变通风回路直流电源所用变电源收发讯机操作及信号......(wenwang@sjtu.edu.cn 摘要：随着电子器件的高频、高速以及集成电路技术的迅速发展和MEMS(Micro Electronical Mechanical System)技术的进步，电子元器件的总功率密度大幅度增长而物理尺寸却越来越小，热流密度也随之增加，所以高温的温度环境势必会影响电子元器件的性能，这就要求对其进行更加高效的热控制。因此，有效解决电子元器件的散热问题已成为当前电子元器件和电子设备制造的关键技术。本文针对电子元器件的散热与冷却问题，综述了当前应用研究中不同的散热和冷却方法，并进行了适当的分析。 关键词：散热，冷却，电子器件 引言 近几年来特别是微电子机械(MEMS)技术发展十分迅猛，并逐渐拓展于多个应用场合,微小型化已成为当代科技发展的重要方向之一。微型制冷技术既依赖于MEMS技术的发展，也同时是MEMS技术发展的需要。众所周知，集成电路技术的快速发展，导致各种电子器件和产品的体积越来越小，集成器件周围的热流密度越来越大，以计算机CPU为例，其运行过程中产生的热流密度已经达到60-100W/cm2，半导体激光器中甚至达到103 W/cm2数量级。另一方面，电子器件工作的可靠性对温度却十分敏感，器件温度在70-80水平上每增加1，可靠性就会下降5%。较高的温度水平已日益成为制约电子器件性能的瓶颈，而高效电子器件的温度控制目前已经渐渐成为一个研究热点。 电子器件的温度控制（或称热控制）的目的是保证其工作的稳定性和可靠性，其中涉及的传热学、流体力学、材料等多个学科背景。从实施的角度看，电子器件的温度控制一般可分为被动控制和主动控制。 2、被动温控技术 被动控制指利用高导热材料作为热桥与热沉或热源形成一个传热通道，从而使热桥另一端的器件维持在某个设计温度范围内，大多数情况下这里的热沉是依靠自然对流或辐射换热向环境散热的金属框架、具有专门的散热片等；或者根据对象的需要，在局部设计绝热结构以隔绝温度敏感元件与一些热源的主要传递途径；也有根据需要在一些局部设计相变材料作为储能和释能的单元维持温控需要的能量。 2.1 自然散热或冷却方法 自然散热或冷却方法是指不使用任何外部辅助能量的情况下，实现局部发热器件向周围环境散热达到温度控制的目的，这其中通常都包含了导热、对流和辐射三种主要传热方式，其中对流以自然对流方式为主，自然散热或冷却往往适用对温度控制要求不高、器件发热的热流密度不大的低功耗器件和部件，以及密封或密集组装的器件不宜（或不需要）采用其它冷却技术的情况下。有时，也因地制宜利用被控部件自身特点增强与邻近热沉的导热或辐射、通过结构设计强化自然对流，在一定程度上提高系统向环境散热能力。 2.2 辐射换热 在空气稀薄、环境温度较高和较低温度的场合辐射换热则在其中占较大比重。辐射换热的换热量主要与换热体之间的温度水平以及温度差、换热体表面吸收率和发射率、换热体之间的相对位置关系等。以航天领域电子器件温度控制为例，由于带有电子器件的物体大多处于空气稀薄环境，辐射换热是其主要手段，在热控设计时，需要考虑辐射换热面的表面涂层、换热面的折叠、遮掩与展现等。 2.3 相变蓄热的应用 物质发生相变时，通常伴随着大量的相变潜热。利用其这一特性，可以在短暂使用或者热流密度很大,而且很难组织与环境有效的热交换的应用场合，通常可以考虑选择一些常压下在某些电子器件工作温度区段进行固液相变的材料，可利用相变材料相变潜热吸收一定时段内运行的电子器件（如移动电话、便携式电脑）产生热量，从而对电子器件进行保护。相变蓄热材料分石蜡类、非石蜡类、无机盐水合物、金属等。 3