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X光繞射儀 (X-ray diffractometer) 廠牌型號： MAC Science M21X 最大功率： 21KW 原廠： Brucker-AXS 一、X光粉末繞射儀之原理與範圍 X光的產生：從電磁原理知道當電粒子在加速或減速過程中，會釋出電磁波，而在巨大加速或減速過程中，所放出之電磁波具有高能量，當其波長在10-12-10-8m則成X光。因此常以經高壓加速之電子撞擊陽極靶標，高速電子受到靶標原子的阻擋，急遽停止下來，其部分動能即以X光的形式釋出來。以急遽停止電子所產生之X光與原子之特性無關，而是以連續性不同波長同時出現，其中最短波長取決於撞擊電子的最高能量。如此產生的光譜，亦稱為白光光譜。除此之外，高速電子在撞到原子時，很容易將能量傳遞給原子中的電子，而使原子離子化。當原子內層軌域之電子被激發後，其空出之位置很快會被外層電子的躍入填滿，在此電子躍遷過程中，由於不同軌域間的能階差，X光會隨著放出；此種過程所產生的X光與原子中電子軌域之能階有關，因此其波長與原子種類有關，稱之為特性輻射，所形成之光譜則稱為特性光譜。X光粉末繞射儀所使用的X光就是此種特性輻射光。 X光繞射原理：1913年W.L.Bragg父子在晶體結構分析實驗中，從散射X光的分佈情形，他們認為可以將繞射現象視為入射光被晶面反射。此種反射如同鏡面反射，入射角等於反射角。在某些散射角下，從相