很低级变泥质岩变质级划分的X衍射分析指标和评价.pdfVIP

2007年全国岩石学与地球动力学暨化学地球动力学研讨会·武汉 6 蠢§P 很低级变泥质岩变质级划分的 X衍射分析指标和评价 汤 艳，桑隆康，于吉顺 中国地质大学地球科学学院，武汉430074 很低级变泥质岩大都由小于5弘m的粘土矿物组成，X-衍射分析(XRD)技术作为先进的微束分析技 射仪测量伊利石结晶度以来，伊利石结晶度一直是变质级划分的主要指标，其次有伊蒙混层比和伊蒙混层 相对含量。本文就红参1井(242个钻井样)及其周边地层(75个地表样)的泥质岩进行了全面而系统的X 衍射分析，得到了大量伊利石结晶度、伊蒙混层比和伊蒙混层的相对含量的数据。通过对比分析，客观地 评价了这三项划分很低级变质级的指标，并提出在应用中应该注意的问题。 伊利石结晶度一直是划分很低级变质带的主要指标。但是不同的人用伊利石结晶度Kijbler指数划 一地区采用不同划分方案会得到不同的结果。就红参1井而言，我们在按照IGCP-294项目伊利石结晶 和矿物共生分析方法，发现Kisch(1990)提出的划分方案更符合研究区的实际情况[1]。 表示伊利石结晶度。通过对钻井样的伊利石结晶度分析表明，红参1井7000米深度以内岩心样品伊利石 结晶度(IC，Ktibler指数)与取样深度的相关性较好，随着深度的增加伊利石结晶度数值减小，这是由于深 度约2800m以上，处于晚期成岩带；以下除6000m以下的极少数刚刚进入浅变带以外，一直处于近变带 (anchizone)内。 通常认为，伊利石结晶度主要受温度控制。温度的控制作用在研究区主要体现在三个方面，一是样品 在地层剖面上的位置；二是样品距离岩体的远近；三是断层对样品的影响。这三个因素控制伊利石结晶度 的变化就是通过温度变化而实现的。 通过对地表样的伊利石结晶度分析表明，受岩体、断层影响较小的普通位置样品，伊利石结晶度主要 受控于在地层剖面上的位置，位置越下温度越高，结晶度数值也越低，也反映了明显的埋藏变质特点。当 样品采集点距离岩体较近时，伊利石结晶度主要受岩体控制，与岩体距离越近，温度越高，结晶度数值也越 低。受断层影响样品的分布特点可看出，断层对伊利石结晶度的影响与侵人体相反：它导致退变质而使伊 极少数样品进入浅变带。 ‘ 伊／蒙混层混层比是指伊／蒙混层中伊利石层所占的比例(百分含量)。随着深度的增加，-／k面体矿 物蒙脱石一I／S-伊利石一自云母反应系列向右进行，伊／蒙混层中的蒙脱石层不断减少而伊利石层不断增加。 依据本区泥质岩样品的伊／蒙混层混层比在红参1井中的分布可以看出，有一定规律性——正相关 性：总的趋势是随着深度的增加，伊／蒙混层的混层比增加。但深度5500m以下伊蒙混层比不变，为达到 i00％，即伊蒙混层不存在了。但是地表样品的伊／蒙混层混层比在地层柱中的分布，却看不出混层比与地 层的相关关系。 一】85— 依据本区泥质岩样品的伊／蒙混层的相对含量(这里指伊／蒙混层含量占伊／蒙混层与伊利石含量之和 的比例(百分含量))在红参1井中的分布可以看出，也有一定规律性一一负相关性：总的趋势是随着深度 的增加，伊／蒙混层的相对含量减少。但深度4500m以下趋于基本不变(相对含量为O)。但是地表样品的 伊／蒙混层的相对含量在地层柱中的分布，也看不出相对含量与地层的相关关系。 通过上述分析资料表明本区地表样品的伊／蒙混层相对含量、伊／蒙混层混层比与地层都没有显示相 关关系，因而也就基本上没有对变质级的指示意义，这可能与地表样品遭受风化作用有关。而较新鲜的取 自红参1井样品，其伊／蒙混层相对含量、伊／蒙混层混层比都显示了与取样深度(地层)的相关性：随着深 度的增加，伊／蒙混层的相对含量减少，伊／蒙混层的混层比增加，对变质级有指示意义。同时，我们分析研 究了伊／蒙混层相对含量、伊／蒙混层混层比与伊利石结晶度的关系。可明显看出，它们都具有较好的相关 性(分别为正、负相关)，有一定的对变质级的指示意义。 对于取自红参l井泥质岩样品别作了伊／蒙混层相对含量(Y1，％)、伊／蒙混层混层比(Y2，％)对伊利 石结晶度(X)的回归分析，