电子技术实验教程实验五.docVIP

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电子技术实验教程实验五

实验五:场效应管放大器 系别: 姓名: 学号: 实验日期: 实验目的 学习场效应管放大电路设计和调试方法; 掌握场效应管基本放大电路的设计及调整、测试方法。 实验仪器 示波器 1台 函数信号发生器 1台 直流稳压电源 1台 数字万用表 1台 多功能电路实验箱 1台 交流毫伏表 1台 实验原理 场效应管的主要特点: 场效应管是一种电压控制器件,由于它的输入阻抗极高(一般可达上百兆、甚至几千兆),动态范围大,热稳定性好,抗辐射能力强,制造工艺简单,便于大规模集成。因此,场效应管的使用越来越广泛。 场效应管按结构可分为MOS型和结型,按沟道分为N沟道和P沟道器件,按零栅压源、漏通断状态分为增强型和耗尽型器件,可根据需要选用。那么,场效应管由于结构上的特点源漏极可以互换,为了防止栅极感应电压击穿要求一切测试仪器,都要有良好接地。 结型场效应管的特性: ⑴转移特性(控制特性):反映了管子工作在饱和区时栅极电压VGS对漏极电流ID的控制作用。当满足|VDS|〉|VGS|-|VP|时,ID对于VGS的关系曲线即为转移特性曲线。如图1所示。由图可知。当VGS=0时的漏极电流即为漏极饱和电流IDSS,也称为零栅漏电流。使ID=0时所对应的栅极电压,称为夹断电压VGS=VGS(TH)。 ⑵转移特性可用如下近似公式表示: ID=IDSS(1-VGS/VGS(TH))2(当0≥VGS≥VP) 这样,只要IDSS和VGS(TH)确定,就可以把转移特性上的其他点估算出来。转移特性的斜率为: gm=ΔID/ΔVGS|VDS=常数 它反映了VGS对ID的控制能力,是表征场效应管放大作用的重要参数,称为跨异。一般为0.1~5ms(mA/V)。它可以由式1求得: gm=-2IDSS/VGS(TH) ×﹙1-VGS/VGS(TH)) 输出特性(漏极特性)反映了漏源电压VDS对漏极电流IC的控制作用。图2为N沟道场效应管的典型漏极特性曲线。 由图可见,曲线分为三个区域,即Ⅰ区(可变电阻区),Ⅱ区(饱和区),Ⅲ区(截止区)。饱和区的特点是VDS增加时ID不变(恒流),而VGS变化时,ID随之变化(受控),管子相当于一个受控恒流源。在实际曲线中,对于确定的VGS的增加,ID有很小的增加。ID对VDS的依赖程度,可以用动态电阻rDS表示为: rDS=ΔVDS/ΔID|VGS=常数 在一般情况下,rDS在几千欧到几百欧之间。 ⑶图示仪测试场效应管特性曲线的方法: ①连接方法:将场效应管G、D、S分别插入图示仪测试台的B、C、E。 ②输出特性测试:集电极电源为+10v,功耗限制电阻为1kΩ;X轴置集电极电压1V/度,Y轴置集电极电流0.5mA∕度;与双极型晶体管测试不同为阶梯信号,由于场效应管为电压控制器件,故阶梯信号应选择阶梯电压,即:阶梯信号:重复、极性:一、阶梯选择0.2V∕度,则可测出场效应管的输出特性,并从特性曲线求出其参数。 ③转移特性测试:在上述测试的基础上,将X轴置基极电压0.2V∕度,则可测出场效应管的转移特性,并从特性曲线求出其参数。 ⑷场效应管主要参数测试电路设计: ①根据转移特性可知,当VGS=0时,ID=IDSS,故其测试电路如图3所示。 ②根据转移特性可知,当ID=0时,VGS=VGS(TH),故其测试电路如图4所示。 自给偏置场效应管放大器: 自给偏置N沟道场效应管共源基本放大器如图5所示,该电路与普通双极型晶体管放大器的偏置不同,它利用漏极电流ID在源极电阻RS上的压降IDRs产生栅极偏压,即: VGSQ=-IDRS 由于N沟道场效应管工作在负压,故此称为自给偏置,同时Rs具有稳定工作点的作用。该电路主要参数为: 电压放大倍数:AV=Vi=-gmRLˊ 式中:RLˊ=RD‖RL‖rDS 输入电阻:Ri≈RG 输出电阻:RO=RD‖rDS 恒流源负载的场效应管放大器: 由于场效应管的gm较小。提高其放大倍数的一种方法代替,如图6所示。它利用场效应管工作在饱和区时,静态电阻小、动态电阻较大的特性,在不提高电源电压的情况下,可获得较大的放大倍数。 设计举例: 试设计一个场效应管放大器,场效应管选用K30A;管脚排列为:要求电源电压为+12V;负载为RL为10k;Av≥5、Ri≥500k、Ro≤10k、?L≤50Hz;若要求电压放大倍数提高为50 ,电路如何改变? ⑴电路模型选择:自给偏置场效应管放大器; ⑵场效应管特性参数测试:按上述方法测试(工作点为VDSG=5V、IDG=1mA); ⑶确定RD、RS和RG; RD=(ED-(VDSQ+|VGSQ|))/IDQ=6.5KΩ 按E24标称系列取RD=6.8kΩ RS=|VGSQ|/IDQ=0.5(KΩ)按

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