数字电子技术试验指导书(最新修改).pdfVIP

? 《数字电子技术》 实验指导书 ‐?1?‐? ? ? 目录 实验一? 常用集成门电路逻辑功能的测试?.........................................?‐?3?‐? 实验二? ? 集成译码器 74LS138 逻辑功能测定和应用?.......................?‐?6?‐? 实验三? ? 数据选择器功能测试及应用?...............................................?‐?8?‐? 实验四? 集成触发器功能测试及应用?...............................................?‐?11?‐? 实验五? ? ? 集成计数器功能测试及应用?...........................................?‐?14?‐? ‐?2?‐? ? ? 实验一 常用集成门电路逻辑功能的测试 一、实验目的 1. 掌握 TTL 与非门逻辑功能的测试方法。 2. 熟悉 TTL 与非门主要参数的测试方法。 3. 掌握 TTL 与 CMOS 集成电路的使用规则。 二、实验原理 在中小规模数字集成电路中，较常用的有 TTL 集成电路和 CMOS 集成电路。 TTL 集成电路中 74LS 系列是低功耗肖特基系列，其工作电源为+5V。相对于 TTL 集成电路，CMOS 集成电路功耗较低，74HC 系列的 CMOS 器件工作电源为 26V，速度较快。尾数相同的 74HC 器件和 74LS 器件功能完全相同，在部分情况 下可以替代。本节中以最常用的 74LS 系列为例进行介绍。 TTL 集成门电路的工作电压为“5V±10%”，输出高电平“1”时 UOH≥2.4V， 输出低电平“0”时 UOH≤0.4V，本实验中使用的 TTL 集成门电路是双列直插型 的集成电路，其管脚的识别方法是：将门电路的正面（印有型号标记的一面）正 对自己，有缺口或者圆点的一端置向左方，左下方的第一管 脚“1”按逆时针 方向数，依次为 1，2，3……，如下图所示。 三、实验仪器与器材 1. 数字电路模块 1 台 2. 万用表 1 块 3. 导线若干 4. 主要器材：74LS00 74LS04 图 1-1 74LS00 2 输入端 4 非门 图 1-2 74LS04 单输入 6 非门 四、实验内容与步骤 1. 74LS00 与非门功能测试 在 74LS00 四个 2 输入与非门中任选一个与非门，将其两输入端接于两个逻 辑开关，用万用表直流电压档测量与非门输入、输出端的直流电压，并将测试结 果填入表 1-1 中。 ‐?3?‐? ? ? (1) 将待测的与非门 74LS00 插在 14P 插座上； (2) 任选其中的一个门，如 1、2 脚输入 3 脚输出的门。通过导线将 2 个输入 端 1 脚、2 脚（对应的小铜孔）分别接到两个逻辑开关 S1、S2，由逻辑 开关提供高低电平的输入信号； (3) 将输出 3 脚接到指示灯（即模块中的逻辑电平）； (4) 为该芯片接通电源。外引+5V 工作电源到该模块的电源插座，“7400”插 座 14 脚与 VCC1 相连、7 脚与 GND1 相连，则 7400 芯片就接通电源了。 (5) 拨动逻辑开关改变输入信号的状态，观察发光二极管指示的输出状态改 变情况。 (6) 使用万用表测量与非门输入输出电压，填入表 1-1 中。 表 1-1 与非门输入输出测量值记录 输入端 输出端 A1 逻辑 电压 B1 Y1 逻辑 电压 逻辑 电压 00 01 10 11 2. 74LS040（非门）逻辑功能的测试 (1) 正确识别各个管脚的逻辑功能，给集成块加上合适的电压。 (2) 从 74LS04 内部任选一个非门，将输入端接逻辑电平开关，输出端接逻 辑电平显示。 (3) 按表 1-2 改变输入端的状态组合，观察输出端的状态变化，将输出端的 逻辑值填入下表。 表 1-2 74LS040 逻辑输出状态记录表 输入状态 输出状态 AY 0 1 五、实验注意事项 1、对于初学者来说，容易认错集成芯片的引脚，接线后通电前必须认真检查， 如果发现集成块发热，应立即切断电源，发热的原因一般是反接了电源，或者输 出端对地短路。 2、外引脚的识别方法：将集成芯片正面对准使用者，凹口或小标志点“?” ‐?4?‐? ? ? 在左边，左下角为起始脚 1，逆时针方向向右数，循环一圈依次是 1，2，3……。 使用时，查找 IC 手册可知各管脚功能； 3、TTL 门电路的输入端若不接信号，则视为“1”电平。CMOS 集成电路与 TTL 集成电路不同，多余不用的门电路或触发器等，其输入端都必须接有效电平， 不能悬空； 4、在实验时，若需插拔集成片，或输入端需改接连线