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2017-03-25 发布于北京
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ASIC可测性设计中扫描路径的应用与分析.pdf

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第卷第期 $$ ( 山东大学学报（工学版）年月 !$ % SCD)$$ 3C)( （） BN) !$ 6JU3*@ V +4*3W3X J3,S5U+,2Y 53X,355U,3X +-,53-5 文章编号：（） %’.! $’% !$ (#($0#1 *+,- 可测性设计中扫描路径的应用与分析陈江华，赵辉，卞林溪! （山东大学信息科学与工程学院，山东济南 !(’% ）摘要：介绍了一种规则的可测性的设计方法———扫描路径法的结构及特点并通过一个同步时序电路扫描路径设 ) 计实例说明了扫描路径法在可测性设计中的重要性为了能在速度、面积、性能及可测性方面达到最佳平 *+,- ) 衡，经分析提出了部分扫描路径设计法) 关键词：扫描路径；集成电路；可测性中图分类号：文献标识码： 231! * ’ !#$%’$() )* )#+,$, (- ’./ ,%) ’. $) !012 , ’/,’3#/ */,$4) -453 6789:#;8， =4* 47 ， ?,*3 @79#A7 （，，，） +B;CCD CE ,9ECFG) +B7) H 59:) +;89IC9: J97K) 67989 !(’% -;798 ： !3,’5%’ 2;L MNFBNFL 89I B;8F8BNLF7MN7BM CE 89 *+,- NLMN8ODL MB89 P8N; ILM7:9 GLN;CI 7M 79NFCIBLI Q7N; 89 ，， LA8GPDL NC M;CQ 7NM 7GPCFN89BL 79 PF8BN7B8D 8PPD7B8N7C9 Q7N; N;L CPN7G8D NF8IL#CEE 8GC9: MPLLI 8FL8 PLFECF# G89BL 89I NLMN8O7D7NR) ：；； 6/+ 7(5*, MB89 P8N; 79NL:F8NLI B7FB7NM NLMN8O7D7NR 于*+,- 设计者来说，在设计一万门以下的*+,- 电 ! 引言路时，一般可以凭借对电路的熟悉和经验，用手工建立一组适当的测试矢量，并通过简单的激励与响应随着微电子工业的迅猛发展，数字S@+, 和*# 分析来确定芯片电路中是否存在故障，从而完成对