SPC统计制程管理讲解.ppt

* * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * 计数型控制图—P控制图建立步骤 A收集数据 B计算控制限 C过程控制解释 D过程能力解释 P控制图建立步骤—步骤A A1选择子组的容量、频率及数量 A2计算每个子组内的不合格品率 A3选择控制图的坐标刻度 A4将不合格品率描组在控制图 子组容量 分组频率 子组数量 步骤A1—选择子组容量、频率、数量 子组容量：用于计数型数据的控制图一般要求较大的子组容量(例如50~200)以便检验出性能的变化，一般希望每组内能包括几个不合格品，但样本数如果太大也会有不利之处。 分组频率：应根据产品的周期确定分组的频率以便说明分析和纠正发现的问题。时间隔短则回馈快，但也许与的子组容量的要求矛盾。 子组数量：要大于等于25组以上，才能判定其稳定性。 步骤A2—计算每个子组内的不合格品率 记录每个子组内的下列值 被检项目的数量─n 发现的不合格项目的数量─np 通过这些数据计算不合格品率 步骤A3—选择控制图的坐标刻度 描绘数据点用的图应将不合格品率作为纵坐标，子组识别作为横坐标。纵坐标刻度应从0到初步研究资料读数中最大的不合格率值的1.5到2倍 P控制图建立步骤—步骤B B1计算过程平均不合格品率 B2计算上、下控制限 B3画线并标注 步骤B1/B2 步骤B3—划线并标注 均值用水平实线：一般为黑色或蓝色实线。 控制限用水平虚线：一般为红色虚线。 尽量让样本数一致，如果样本数一直在变化，会如下图： 步骤B3—划线并标注 在实际应用时，当各样本组容量与其平均值相差不超过正负25%时，可用平均样本容量（n）来计算控制限，当样本组容量的变化超过上述值时，则要求单独计算这些特别小或特别大样本时期内的控制限。 注意：任何处理可变控制限的程序都会变得麻烦，并且可能使解释控制图的人员造成混淆。如果可能的话，最好是调整数据收集计划，从而使用固定的样本容量。 P控制图建立步骤—步骤C C1分析数据点，找出不稳定证据 C2寻找并纠正特殊原因 C3重新计算控制界限 超出控制限的点链明显的非随机图形 步骤C1—分析数据点，找出不稳定的证据 分析同计量型控制图 步骤C2—寻找并纠正特殊原因 当从数据中已发现了失控的情况时，则必须研究操作过程以便确定其原因。然后纠正该原因并尽可能防止其再发生。由于特殊原因是通过控制图发现的，要求对操作进行分析，希望操作者或现场检验员有能力发现变差原因并纠正。可利用诸如排列图和因果分析图等解决问题技术 步骤C3—重新计算控制限 当进行初始过程研究或对过程能力重新评价时，应计算试验控制限； 一旦控制图稳定和受控并且过程能力可接受，则可将控制限延伸到将来的时期。它们便变成了操作控制限，控制图则成为管理用控制图 P控制图建立步骤—控制限运用说明 收集数据 绘图计算控制限 是否异常？ 延伸控制限 制造过程有变化人/机/料/法/环/测 找出异常点原因并提出改进措施 P控制图建立步骤—步骤D D1计算过程能力 D2评价过程能力 D3改进过程能力 D4绘制并分析修改后的过程控制图 步骤D1—计算过程能力 对于p图，过程能力是通过过程平均不合格率来表示，当所有点都受控后才计算该值。如需要，还可以用符合规范的比例(1-p)来表示。 对于过程能力的初步估计值，应使用历史数据，但应剔除与特殊原因有关的数据点。 当正式研究过程能力时，应使用新的数据，最好是25个或更多时期子组，且所有的点都受统计控制。这些连续的受控的时期子组的p值是该过程当前能力的更好的估计值 步骤D2—评价过程能力 缩小控制限 降低不良率 步骤D3—改善过程能力 过程一旦表现出于统计控制状态，该过程所保持的不合格平均水平即反应了该系统的变差原因─过程能力。在操作上诊断特殊原因(控制)变差问题的分析方法不适于诊断影响系统的普通原因变差。必须对系统本身直接采取管理措施，否则过程能力不可能得到改进。有必要使用长期的解决问题的方法来纠正造成长期不合格的原因。 可以使用诸如排列图分析法及因果分析图等解决问题技术。但是如果仅使用计数型数据将很难理解问题所在，通常仅可能地追溯变差的可疑原因，并借助计量型数据进行分交有利于问题的解决 步骤D4—绘制分析修改后的过程控制图 当对过程采取了系统的措施后，其效果应在控制