一种基于概率分析的扫描链动态功耗模型.pdfVIP

108 微电子学与计算机 2∞4年第 21 卷第 2 期 一种基于概率分析的扫描链动态功耗模型 陈治国1.2 徐勇军 2 李晓维 E ( 1 电子科技大学物理电子学院、四川成都61(054) (2 中国科学院计算技术研究所，北京 I(刷版)) 摘 要:文章通过对扫揣测试期间扫描链跪受统计分析，越立了，篝于概率统计的扫描链功耗模型。该模型可以对扫描 锐的动态功税进行快速准确纳估计。在此基础土.依锯扫锚单元的.1 概率重排扫描链能有效法降低扫描功耗u 实验 结果表明 ， i!种方法是有效可行的、 笑自询: 测试功施，扫描测试， 概率分析法 中西法份挺喜t ，l问 立由保t~码:A 文..~号 1创10-7180(2创浏阳-I08-{)5 A Probabilistic Study of Scan-based Testing Power Consumption CHEN Zhi.guou, XU Yong.jlln2? LI Xìao-wei (1 School of Physical Electmnic5. Unive四ity of Electronic 玩ien回缸，.j T~chnology， Chengdu 6 10054. China) (2 Inlitule o( Coroputing Technology, Chin白eA倒demy of Scien曲民 8eijing 1似沁80， China ) Abstnct: 1，帽lpo附伽ipalion 附 e~ceedingly higl、 in aean-based environmenl wherein scall chain transitiollll during the s以且Q( t回，t d以a úùter 町自幌\ into sìgnifice.nl le..，1怠 。fci陀uit s..ntchíng unnee由捕证y. lt\ 池内阴阳风盹80 chain 叫tching 8C即iti剧 is evaluated by unaly时，协ich b剧创。n test v回10r and scan 佣11 probabilily. R凹，rdering scan chain 10 reduce s..ntching 时tivities 山 !i鸭阴阳i in lhis paper t剧. bpetimental re咄Its are @阴阳 to pro咽 this 帆alys?? meùtoooloRY is effi- cient and usefu\ (or power aoa1ysi ?. Key ords: 1，咽tpo附r di捕ip剧ion， Scan te8ting，阶址，他Uislic analysis 1 号i 言 除此之外，这种技术还受限于不确定位的多少。 扫捕测试期间，测试激励的.b[)载和测试响应的 测试向最排F乎也能降低功花，为了降低扫描链 捕获都是经由扫描链.从而引起扫描单元过多的跳 的跳变，两种技术，测试向最排序I7Jl初扫描锁存器排 变.扫描跳变是澳H式功耗的主要来源111。扫描测试期 序I坷，锁存器排序技术对于降低荔于扫锚的测试功 间的功耗过大是扫描测试的一个重要制约，过量的 貌降低是有效的，测成向1量排序也能获得功耗降 跳变会损坏待测器件，避而影响产品产出，堪加测 低，因为扫捕链的跳变主要由嵌在测试激励和响应 试成本。扫描测试功貌已成为扫描测试的一个重要 中的跳变决定的。 制约因絮，直接影响到扫描测试能否顺利进行。 测试调度也是一种常用的方法。功能作为测试 CMOS 电腾的动态功钝与基本电路跳变数成正比阴。