集成电路专用芯片设计中的测试.pdfVIP

皇±型量与仪器学报 2005年增刊 集成电路专用芯片设计中的测试 刘丽1刘第2 刘明亮2 (1吉林省新立城水库长春130022 2北京：[业大学北京100022) 摘要：本文举例说明了测试在集成电路专用芯片设计中的日的和意义，详细阐述了测试在芯片设计各个阶段的关键点。以 便：I：程师更充分认识专用芯片的各个阶段的测试重点，使工程师们更好地把握各个芯片设计阶段的测试。如此完成测试，可 提高产品的成品率。 关键词： 芯片测试集成电路 Test in Design of Special Integrate Circuit chip Liu Lil Liu Di2 Liu Minglian92 (1The XinLiCheng Reservoir of JiLin Province l 30022‘Beijing University ofTechnology 1 00022) Abstract：The aim and the purport of test in design of special integrate circuit chip are illustrated in the paper,and the keynotes of test in each design state is explained in detail．Through the keynotes engin