嵌入式API测试套生成方法和技术.pdfVIP

软件学报ISSN 1 000．9825．CODEN RUXUEW Journal ofSoftware，2014，25(2)：373—385[doi：10．133280．cnkijos．004541] @中国科学院软件研究所版权所有． 嵌入式API测试套生成方法和技术牛 赵会群，孙晶，张爆，王同林 (北方工业大学信息工程学院，北京 100144) 通讯作者：赵会群。E-mail：zhaohq6625@sina．com E-mail：jos@iscas．ac．cn http：／／www．jos．org．cn Tel／Fax+86．10摘要： 随着嵌入式计算机系统应用的不断扩展，嵌入式系统的可靠性引起了学术界和工业界的广泛关注，也提 出了很多增进可靠性的方法和技术．然而，现有的方法和技术在测试套生成方面论述不多，所以在处理大批量嵌入式 系统测试工作中遇到了挑战．讨论抽象测试套生成方法和适配技术，提出了LTS(1abeled transition system)到 BT(behavior tree)的转换算法。从而使TTCN(test and testing control notation)测试套可以通过转换嵌入式软件的LTS 描述产生．还介绍了基于上述转换算法的嵌入式软件测试工具包，以及一个嵌入式物联网识读器测试案例研究． 关键词：嵌入式软件；软件测试；测试与测试控制语言；标签转换系统 中图法分类号：TP311 文献标识码：A 中文引用格式：赵会群，孙晶，张爆，王同林．嵌入式API测试套生成方法和技术．软件学报，2014。25(2)：373-385．http：／／www．jos． org．en／1000-9825／4541．htm 英文引用格式：ZhaoHQ,Sun J．ZhangB，WangTL．Methodandtechniqueoftest suitegenerationforembeddedAPI．Ruan Jian Xue Bao／Joumal ofSoRware，2014，25(2)：373-385(in Chinese)．htlp：／／wwwjos．org．en／1000-9825／4541．htm Method and Technique of Test Suite Generation for Embedded API ZHAO Hui—Qun，SUN Jing，ZHANG Bao，WANG Tong-Lin (School ofInformation Engineering，North China University ofTechnology，Beijing 100144，China) Corresponding author：ZHAO Hui-Qua，E·mail：zhaohq6625@sina．com Abstract：With the rapid increase of embedded computer system applications，the reliability of embedded software has drawn particular attention from researchers and industries．Many methods for testing and verifying reliability of embedded sothvare have been discussed． However，the existing methods are weak in test suite automatic generation and therefore difficult in tackling large numbers of embedded computer applications．In this paper,the method and the technique of generating abs仃act test suite and their adaptation tO a computer platform are presented．An algorithm for translating aLTS(1abeled transition system)into BT(behavior tree)is proposed．Consequently, the TTCN(test and testing control notation)abs订act test suite that employs BT as logical structure can automatically be generated with respe