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（2）光性非均质体 光性非均质体是指光在其内传播时，光速因传播方向不同而变化的一类物质，简称非均质体。包括中级晶族（三方、四方、六方）和低级晶族矿物（三斜、单斜、斜方）。 当光射入非均质体后，除特殊方向外，其余方向都将产生双折射。 光轴： 光波入射非均质体中只有个别方向不产生双折射现象，非均质体中这种不发生双折射的特殊方向称为光轴。 非均质体分为：一轴晶，二轴晶 一轴晶：只有一个方向不产生双折射，即只有一根光轴的非均质体。（四方晶系，六方晶系，三方晶系） 二轴晶：有两个方向不产生双折射，即有两根光轴的非均质体。（斜方晶系，单斜晶系，三斜晶系） 矿物晶体中冰洲石的双折射现象最为明显 冰洲石化学成分：CaCO3， 晶系：三方晶系； 形状：菱面体； ? 颜色：无色透明、紫色透明、浅黄色透明、金黄色透明、茶色透明、绿色透明； 光性：一轴晶（―）； 折射率：Ne=1.4864、No=1.6584(λ=589nm)； 双折射率：0.1720； 解理：完全解理； 双晶：聚片双晶{0112}； 因双折射特性，常被利用于偏光棱镜。 双折射： 自然光入射某些晶体后，分裂为相互垂直振动的两束偏光。是晶体光学性质表征参数之一。 双折射现象产生的原因： 光波在非均质体中传播时，其传播速度随光波振动方向不同而改变。自然光进入非均质体后，原来任意方向振动的光波，变成两个振动方向互相垂直的光波，并且传输速率一般不等。 常光：其中一束振动方向永远垂直光轴，而且折射率值不变称为常光(o光)；折射率为No 非常光：另一束偏光，它的折射率随入射光的方向变化而变化，称为非常光(e光)。振动方向在光波传播方向与光轴构成的平面内。折射率为Ne 双折射率：两种偏光折射率之差称为双折射率。R= Ne-No 一轴晶双折射为例： 当光发生双折射时，入射光分解形成两种偏光 §2. 光率体 概念: 表示晶体中光波振动方向与折射率之间关系的一种光性指示体。 光率体的构成：设想自晶体中心起，沿光波的各个振动方向按比例截取相应的线段(这些线段的长度代表相应的折射率值)，再把各线段的端点联接起来，便构成了该晶体的光率体。 光率体的作法： 对一定方向入射光，在垂直入射方向的平面内，取其光振动方向为长短半径的方向（双折射振动方向互? ），对应折射率值为半径的长短半径，得两条互垂线段，以此互垂不等线段为长短轴半径做椭圆将各个入射方向的线段端连接起来，所围成的立体几何形体就是光率体。 其半径差即为双折射率。 ——将光波的干涉技术与显微镜结合起来，利用光的干涉研究物相更细微的表面高度差，观察数十纳米的高度差。 ——一束单色光射到空气尖劈上会产生两束存在一定光程差的光，并产生干涉现象，在目镜中可见明暗相间的条纹。 ——不平表面将产生弯曲干涉条纹。根据干涉条纹的形状即可定量检测样品表面的细微高度差和平整情况。 4 干涉显微术 5 光学显微分析技术的突破——近场光学显微镜?光学显微镜的分辨率极限 衍射光斑的分辨 ???? 瑞利判据 ?提高分辨率的传统途径： ——选择更短的波长； ——采用折射率很高的材料； ——增大显微镜的孔径角。 无法突破λ/2分辨率极限。 ?近场光学显微镜 ????近场光学——研究距离物体表面一个波长以内的光学现象。 ——一个发光体的光发射过程可以用如下描述。物体内部的电荷，电流的振荡会引起电磁场的变化，从而能够从物体表面向自由空间传播，这样的电流分布在小于波长的空间尺度就有变化。 STM是基于隧道电子的探测 （1981） 近场光学显微镜是探测隧道光子 （1991年Bell实验室的Betzig等人用光学纤维制成高通光率的锥形光孔） ???? 近场探测器 ——位于距物体一个波长以内的位置上，在场传播以前将其俘获。 ——使用点状探测器逐点成像： 首先收集纳米尺度的局部光信号，转变为电流/发射到自由空间以波导方式传播到探测系统，将逐点采集的信息扫描成为二维图像。 光纤探针 原子力显微镜 近场光学显微镜 高密度磁盘的磁道观察 由于光子具有一些特殊的性质。如：没有质量、电中性、波长比较长(与电子相比较)、容易改变偏振特性。 近场光学在纳米尺度观察上具有其他扫描探针显微镜所不能取代的作用，如STM，原子力显微镜(AFM) 光学显微镜已从定性观察向定量分析和智能化方向过渡，传统的显微图象处理主要依靠光学，照相、电视等模拟方法进行处理，近年来， 由于计算机和计算技术的发展， “图象分析显微镜”得到发展 ， 它是由显微镜、摄象系统、显示系统、电控装置和计算机组成。既能自动识别图象，又能进行快速分析，只需通过软件更新就能不断扩展功能。 图像分析系统 第一章 晶体光学基础 第二章