显微检测技术..（副本）.pptVIP

课程汇报 材料研究中的应用 显微表征手段在纳米 材料研究中的应用 显微表征实例分析 纳米材料检测手段 显微表征技术简介 一.显微表征技术简介 显微表征技术在现代科学研究中发挥着日益重要甚至决定性的作用，成为科研学者必不可少的研究工具。现代显微表征手段种类繁多，功能各异，较常使用的主要有： 1. SEM (Scanning Electron Miroscope) 2. TEM (Transmission Electron Microscope) 1.SEM(扫描电子显微镜) 扫描电子显微镜是一种常用的材料分析手段，主要用来观察样品的表面形貌。其景深大，图象富有立体感 ，图象的放大范围广，分辨率也比较高。在观察形貌的同时，还可利用从样品发出的其他信号作微区成分分析。 2. TEM(透射电子显微镜) TEM分为场发射和热阴极电子发射两种，常用于研究纳米材料的结晶情况，观察纳米粒子的形貌、分散情况及测量和评估纳米粒子的粒径，是常用的纳米复合材料微观结构的表征技术之一。 3. XRD(X射线衍射) XRD是一种通过对材料进行X射线衍射，分析其衍射图谱，获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构或形态等信息的研究手段。近来已成为研究晶体物质和某些非晶态物质微观结构的有效方法，可进行物相和结