150KHz至1GHz电磁放射量测.doc

Integrated circuits ? Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHZ to 1 GHZ Part 1: Genral Conditions and definitions 編訂說明：本案建議案號為「建-制1020121」，草案編號為「草-制1010121」，係由本局第六組委外編擬，依程序辦理徵求意見，敬請 惠賜卓見。 目錄節次 頁次 前言 4 1. 適用範圍 5 2. 參考標準 5 3. 定義 6 3.1 人工網路(AN) 6 3.2 關聯的設備 6 3.3 自動掃描 6 3.4 寬頻放射 6 3.5 共模電壓 7 3.6 共模電流 7 3.7 傳導放射 7 3.8 連續性擾動 7 3.9 待測裝置 7 3.10 晶粒收縮 7 3.11 差模電流 8 3.12 差模電壓 8 3.13 不連續干擾 8 3.14 短電氣長度印刷電路板(PC(B) 8 3.15 電磁相容EMC 8 3.16 電磁放射 8 3.17 電磁輻射 9 3.18 放射限制(從一個擾動源) 9 3.19 接地(參考)面 9 3.20 導線架 9 3.21 測試接收機 9 3.22 多晶片的模組(MCM) 9 3.23 多顆IC組 9 3.24 窄頻放射 10 3.25 峰值檢波器 10 3.26 前置放大器雜訊位準(noise floor) 10 3.27 接收機的端點電壓 10 3.28 參考點 10 3.29 重複率 10 3.30 電磁環境(射頻週遭環境) 10 3.31 屏蔽箱體 10 3.32 重大的IC更改 11 3.33 系統增益 11 3.34 測試計畫 11 3.35 工作枱法拉第箱體(WBF(C) 11 4. 測試條件 11 4.1 通則 11 4.2 週遭環境的條件 12 5. 測試設備 12 5. 測試裝備 12 5.1 通則 12 5.2 屏蔽 13 5.3 射頻量測儀器 13 5.4 頻率範圍 15 5.5 前置放大器或衰減器 15 5.6 系統增益 16 5.7 其他元件 16 6. 測試設置 16 6.1 通則 16 6.2 測試電路板 17 6.3 IC接腳的負載 17 6.4 電源之要求－測試板之供應電源 18 6.5 IC的特定考量 19 7. 測試程序 20 7.2 周遭環境檢查 20 7.2 操作上的檢查 20 7.3 特定的程序 20 8. 測試報告 20 8.1 通則 20 8.2 週遭環境 21 8.3 裝置的描述 21 8.4 設置的描述 21 8.5 軟體描述 21 8.6 資料的呈現 21 8.7 射頻發射限制值 22 8.8 測量結果的說明 22 9. 基本測試板的一般規格 23 9.1 測試板描述-機構 23 9.2 測試板描述－電性 23 9.3 接地面 24 9.4 接腳 24 9.5 貫孔型式 25 9.6 貫孔距離貫孔間必須有最大的橫向距離 25 9.7 額外附加的元件 25 附錄A(參考)測試方法之比較 31 附錄B(參考) 33 附錄C(參考)最嚴酷應用軟體之說明 33 參考文獻 35 專有名詞 36 前言 1 Scope This part of IEC 61967 provides general information and definitions on measurement of conducted and radiated electromagnetic disturbances from integrated circuits. It also provides a description of measurement conditions, test equipment and set-up as well as the test procedures and content of the test reports. A test method comparison table is included as annex A to assist in selecting the appropriate measurement method(s). 1. 適用範圍 IEC 61967第一部提供量測積體電路(IC)傳導和輻射電磁擾動的一般說明及定義，同時也描述量測條件、測試設備、測試設置、測試程序和測試報告的內容等；附錄A有一張各種測試方法的比較表，可以幫助來選擇適當的量測方法。 The object of this standard is to describe general conditions in order to establish a uniform testi