过程能力分办法.doc

过程能力分析办法 文件编号： 版本：1.0 拟制： 日期： 审核： 日期： 批准： 日期： 2003-04-15发布 2003-05-01实施 xxxxxx有限公司 编号： 页数: 9 版本：1.0 过程能力分析办法 目的 通过统计过程控制来有效的了解过程变差并使之达到统计控制状态，在此状态下可以通过减少普通原因变差和改进过程中的目标来进一步改进，以减少成本并提高生产率；同时，为操作过程的人员之间、生产线和支持活动的人员之间提供了通用的语言，并为解决问题，采取正确有效的措施提供依据。 适用范围 计量型：Ppk、Cpk、Cmk统计分析； 计数型：不合格品率的P图。 术语 CMK：机器能力指数 PPK：过程性能指数 CPK：过程能力指数 职责 开发部、制造部、质保部负责数据收集。 质保部负责进行数据分析、进行相应措施并跟踪。 规定 5.1控制图的建立与分析 在进行统计过程控制时，在本公司内最常用的方法是均值和极差图（X-R图） 5.1.1收集数据 5.1.1.1子组大小 选择子组应使得一个子组内在该单元中的各样本之间出现变差的机会小。在本公司目前状态下，子组一般由4到5件连续生产的产品组合； 5.1.1.2子组频率 在过程的初期研究中，通常是连续进行分组或很短的时间间隔进行分组，当子组已处于稳定状态时，子组的间隔时间可以增加； 5.1.1.3子组数的大小 一般情况下，包含100或更多单值读数的25或更多个子组可以很好地用来检验稳定性。 5.1.2建立控制图 X—R图表内还应包括单位名称、机器名称/编号、控制卡名称、量具名称/编号、检验部门、零件名称/零件号、上干扰极限、下干扰极限、上警告极限、下警告极限、控制特性值、控制中心、抽样频次、样本大小等。通常是将X图画在R图之上方，下面再接一个数据栏，数据栏应包括每个读数的空间，同时还应包括记录读数的和、均值、极差、以及日期/时间或其它识别子组的代码的空间。 5.1.3计算每个子组的均值和极差 对于每个子组，计算： X1+X2+…+Xn X = n R = X最大值 – X最小值 式中：X1、X2…为子组内的每个测量值。n为子组的样本容量。 5.1.4选择控制图的刻度 对于X图，坐标上的刻度值的最大值与最小值之差应至少为子组均值的最大值与最小值差的2倍。对于R图，刻度值应从最低值为0开始到最大值之间的差值为初始阶段所遇到的最大极差的2倍。 5.1.5画图 将均值和极差分别画在其各自的图上，将各点用直线联接起来从而得到可见的图形和趋势。 5.1.6计算控制限 首先计算： R1+R2+…+RK R = K X1+X2+…+XK X = K 式中：K为子组的数量，R1和X1即为第1个子组的极差和均值，等等。 为了显示仅存在变差的普通原因时子组的均值和极差的变化和范围，对极差和均值的上、下控制限进行了计算： UCLR = D4R LCLR = D3R UCLX = X+A2R LCLX = X-A2R 式中：D4、D3、A2为常数，它们随样本容量的不同而不同，具体内容见附表： n 2 3 4 5 6 7 8 9 10 D4 3.27 2.57 2.28 2.11 2.00 1.92 1.86 1.82 1.78 D3 * * * * * 0.08 0.14 0.18 0.22 A2 1.88 1.02 0.73 0.58 0.48 0.42 0.37 0.34 0.31 计算后将平均极差和过程均值画成水平实线，各控制限画成水平虚线；把线上标上记号。 5.1.7数据点的分析 R图和X图的分析应是独立统一的，即分别分析又比较分析。 对于控制图上的数据点，存在以下现象时进行调查分析并采取相应措施： 5.1.7.1超出控制