第五章-连续结晶讲述.ppt

MSMPR模型的扩展与缺欠 在许多情况下，实验结果与用MSMPR模型所测的直线模型不吻合，特别是小颗粒的情况下，100μm以下。 聚合现象和破碎 在沉淀反应结晶过程中，小颗粒的聚合现象对产品的粒度分布的影响是很大的，为在颗粒蘅算方程中加入此现象，粒数衡算方程可写为： 是由于聚合而形成的颗粒数 是由于破碎而形成的颗粒数 聚并现象是由尺寸U和尺寸V-U进入尺寸V的速率可用下列方程描述： 由破碎而引起的颗粒尺寸的生长和消失也可以用相应的函数表示，如假设一个颗粒破碎成两个相同体积的颗粒，则 虽然在颗粒蘅算方程中包括聚并表示破碎现象是很困难，但结晶过程中这些现象又很重要，因此，在这些方面的研究也很活跃。 由于聚并引起的颗粒密度分布如图4.13 4.14 4.15 颗粒密度分布函数也可用一些其他的控制手段来实现，例如：细晶溶解。分级排除等。 连续结晶过程的模拟 连续结晶过程的稳态 在一定的进料，操作条件下，当体统达到稳态时 结晶器内的过饱和度为稳定值 产品量（悬浮密度），产品的粒度分布为稳定值， 产品的悬浮密度，由物料衡算确定 晶体的成长速率（和成核速率）应满足产品量的要求 结晶器内的过饱和度由晶体含量，晶体的成长速率和成核速率而定，因此，在过程之前为不可知数 模拟所需基本参数和模型 晶体： 密度 体积形状系数 液体： 溶解度数据 C* = f（T） 操作条件： 结晶器体积 V 喂料浓度，喂料速率，蒸发速率， 结晶温度， 搅拌强度 排料位置 * （对不完全混合悬浮状态的结晶过程） 基本模型： 成核速率模型 成长速率模型 模拟过程 给定结晶过程的过饱和度，ΔC 计算溶液的实际浓度 C10 = C* + ΔC 计算溶液的悬浮密度：MT = （C0/(1-Vw/V0))-C10 计算初始成长速率 G = f （ ΔC，L） 计算初始成核速率， 计算n0， n0 = B/G 估计计算产品的粒数密度，例如MSMPR结晶器 计算由颗粒分布得到的悬浮密度 判断：比较在猜测的过饱和度下，根据过程条件得到的产品粒度分布，从而计算的悬浮密度与根据物料衡算得到的悬浮密度 相等：说明所猜测的过饱和度为实际操作的过饱和度，因此计算成立，所得到的产品粒度分布为实际值，输出结果，并计算平均粒径的参数 不等：重新猜测过饱和度，重新计算，直至相等 注意：过饱和度的猜测方法要使用一定的搜索方法，使猜测值逐渐逼近正确值。 连续结晶过程，粒数衡算 第五章 连续结晶过程的特征 连续结晶过程是在结晶系统内保持连续进料，连续排料， 一般的连续结晶过程是在一个能使晶体悬浮的设备内进行 适用于大规模的生产 产品的粒度分布比较宽 过程控制相对比较困难 MSMPR 结晶器 一般的连续操作过程中，都要求预测最终产品的尺寸及其尺寸分布. 混合悬浮、混合产品排出(Mixed suspension, Mixed product remove, MSMPR) 是一个理想的连续操作的结晶器模型。 通过对（MSMPR）结晶器颗粒衡算，得到其粒度分布模型，此模型在分析连续结晶系统中展示了重要的作用。 MSMPR 结晶器假设 产品的颗粒粒度分布和结晶器中粒度分布完全相同，即当产品排出时颗粒没有“分级” 。 颗粒的形成全部是成核，和随后的成长，也就是说，颗粒的破碎，摩擦和聚集现象全部忽略。 颗粒的形状系数不随颗粒的尺寸而变化，因此，特征尺寸可以用来描述全部的颗粒。 进料中不存在任何尺寸的晶体 在此基本的假设下，使用类似于能量和质量衡算的基本方法，可建立颗粒衡算。 粒数衡算 在结晶器内考虑任意颗粒尺寸L，对尺寸范围在L1到L2之间，用n1和n2表示其相应的颗粒密度，对颗粒进行衡算 考虑在此范围的颗粒衡算 L1,G1,n1 L2,G2,n2 L 颗粒进入或离开这一尺寸范围时，可能由于成长或流体流动，用G表示晶体的线性成长速率，V表示结晶器尺寸，Q表示体积流率，则有 1.由于成长进入此尺寸范围的颗粒个数， Vn1G1 2.由于成长离开此尺寸范围的颗粒个数 Vn2G2 3.由于流体流入(喂料）而带入的晶体在此范围的个数 为 在Li+1～Li之间的平均值 4.由于流体流动离开(排料）此尺寸范围的个数 粒数平衡 取极限使ΔL变成最小 V/Q=τ （平均停留时间） 同时假设在进入的流体中设有任何颗粒 如果假设晶体的成长速率不随晶体的尺