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测量系统
人类的生活与工作离不开数据,在产品的统计质量管理中数据的使用极其频繁和相当广泛,所有统计质量管理的方法都是以数据为基础而建立起来的.如果数据失真或误差很大,都会导致分析失效、决策失败。因此,在应用统计分析方法时,应首先把注意力集中在数据的质量上,为此,必须对获得数据的测量系统进行考察。数据是通过测量获得的。测量:指以确定实体或系统的量值大小为目标的一整套作业。什么叫一整套作业呢?
一整套作业
给具体事物(实体或系统)赋值的过程。过程的输入有:人(合格的操作者)、机(量具和必要的设备和软件)、料(实体或系统)、法(操作程序)、环(必要的测量环境),过程的输出就是测量或测量结果,或简称数据,又称测量系统。请看示意图。
测量系统示意图
赋
值
操作者
设备
软件
被测事物
操作程序
测量环境
数据
(测量结果)
表征数据质量的统计指标
什么是高质量的数据呢?通常用来表征测量数据质量高低的统计指标是偏倚(bias)和变差(variation)
偏倚表示多次测量结果的平均值与基准值之差,基准值可通过更高级别的测量设备进行多次测量取平均值来确定。
基准值
偏倚示意图
偏倚
什么叫变差?
变差用来表示在相同的条件下进行多次重复测量结果的变异程度,常用测量结果的标准差或过程变差PV表示。这里的过程变差是指99%的测量结果所占区间的长度。请看示意图:
PV=5.15σ
99%
0.005
0.005
偏倚与变差示意图
测量数据质量高既要求偏倚小,又要求变差小.若偏倚与变差中有一项或两项都大,都不能说测量数据质量高,请看示意图.
偏倚小
变差小
偏倚大
变差小
偏倚小
变差大
偏倚大
变差大
实例
一测量员对基准值为L=0.80mm的样品重复测量10次,所得测量值为:
0.75 0.75 0.80 0.80 0.65
0.80 0.75 0.75 0.75 0.70
其平均值与偏倚分别为:
X= ∑xi= =0.75
偏倚= X -L=0.75-0.80=-0.05
这表明测量的平均值比基准值低了0.05mm.
1
10
10
i=1
10
7.5
影响数据变差有两类因素(即波动的原因):偶然因素与异常因素.当测量系统仅受偶然因素影响时,测量数据的标准差可用极差R估计:
σ=R/d2=0.15/3.078=0.04873
R=xmax-xmin=0.80-0.65=0.15
过程变差PV=5.15 σ=0.2509
当测量系统既受偶然因素影响,又受异常因素影响时,其标准差可用测量数据的标准差估计:
σ=0.04714(电脑计算标准偏差便可)
过程变差PV=5.15 σ=0.2428
这表明如果重复测量,则将有99%的测量结果落在长为0.25的区间内.
测量系统要有足够的分辨力
测量系统的分辨力(discrimination)是指测量系统检出并如实指示被测特性中极小变化的能力.如某量具能识别长度中0.01mm的变化,但不能识别长度中0.001mm的变化,对这种量具而言,4.361与4.362都是4.36,这时,0.01就是量具的分辨力.
每个测量系统都能有自己的分辨力,在分辨力范围内,该测量系统能识别零件之间的差别,但在分辨力范围之外,该测量系统将无能为力.没有一个测量系统能识别一切被测特性.
测量系统的选用
一个测量系统被选用,它一定具有足够的分辨力.“足够”指:
(1)测量系统的波动比制造过程的波动小,最多为后者的1/10;
(2)测量系统的波动小于公差限,最多为公差限的 1/10.
若波动大小用各自的标准差表示, σ表示测量系统的标准差, σ1表示制造过程的标准差,d表示公差限,则一个测量系统具有足够的分辨力是指:
σ≤min( , )
10
σ1
举例说明
如果测量系统没有足够的分辨力,就不能定量地表示单个零件的特性值,也不能识别制造过程所发生的波动,这时,应放弃使用该测量系统,而改用更好的测量系统,使它具有足够的分辨力.但应注意的是,有时使用分辨力过高的测量系统意味着什么?.
下面采用分辨力为0.001与0.01的测量系统分别做X-R控制图
浪费
分辨力为0.001的X-R控制图
分辨力为0.01的X-R控制图
图例说明
从以上的图例不难看出,使用分辨力为0.001的测量系统,其控制图能清楚的表示出来,显示了测量系统有足够的分辨力.而使用分辨力为0.01的测量系统,其控制图上的波动明显减
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