光电测量系统设计基于干涉方法测量压电陶瓷微小伸长量_毕业论文.docVIP

光电测量系统设计 ----基于干涉方法测量压电陶瓷微小伸长量 指导老师： 朱海东 樊敏 姓名： 陈权 学号： 2013031053 班级： 电科132班 时间： 2016年11月 7 日  摘 要 本次实验为光电测量系统设计，从而测量压电陶瓷由于加热而产生的微小形变量，故需要掌握干涉和衍射的基本原理和产生条件，结合相关仪器软件完成对光电探测器的设计。首先是对通过杨氏双缝干涉，夫琅禾费衍射，PSD微小位移测量实验对理论知识的补充和了解，并对测量系统的搭建有一个大概的构思。然后在机房通过仿真软件ZMAX完成扩束准直系统的设计，ZW CAD绘制出探测器的光学结构（探头主体、底座、支杆等）；最后，进行了光纤端面处理和光纤传感综合实验。 关键词：光电测量系统；干涉；衍射；探测器；光纤实验 目 录 论文总页数：11页 1. 简介 1 1.1. 实验目的及内容 1 2. 干涉及衍射原理 1 2.1. 干涉 1 2.1.1. 干涉原理 1 2.1.2. 干涉条件 2 2.1.3. 实现光束干涉的基本方法 2 2.2. 衍射 2 2.2.1. 衍射原理 2 2.2.2. 衍射分类 2 3. 干涉仪 2 4. 整体结构 3 5. 上机 4 5.1. ZMAX仿真设计 4 5.1.1. 单透镜 4 5.1.2. 双透镜 5 5.1.3. 扩束准直系统 6 5.2. 探测器设计 7 6. 总结 10 6.1. 实验结果及分析 10 6.2. 问题分析 10 6.3. 实验改进 11 结 语 11 参考文献 11 1. 简介 1.1. 实验目的及内容 1、基于光的干涉、衍射原理，理解干涉、衍射测量法的原理及方法，了解各部分的作用并能综合运用； 2、了解探测器的设计原理及探测器的分类，综合应用所学的光学知识，利用干涉测量法测量压电陶瓷的微小伸长量； 3、通过相关实验仪器和软件的操作完成对光电探头的设计； 2. 干涉及衍射原理 2.1. 干涉 2.1.1. 干涉原理 只有两列光波的频率相同，相位差恒定，振动方向一致的相干光源，才能产生光的干涉。由两个普通独立光源发出的光，不可能具有相同的频率，更不可能存在固定的相差，因此，不能产生干涉现象。 光的干涉是指两束或多束光在空间相遇时，在重叠区内形成稳定的强弱强度分布的现象。 例如，两列单色线偏振光 在空间点相遇，它们的振动方向间夹角为，则在点处得总光强为 式中，，是二光束的光强，是两光束的相位差，且有 由此可见，两光束叠加后的总强度并不等于这两列波的强度和，而是多了一项交叉项,它反映了这两束光的干涉效应，通常称为干涉项。干涉现象就是指这两束光在重叠区内形成的稳定的光强分布。所谓稳定，就是用肉眼或记录仪器能观察到或者记录到条纹分布，即在一定时间内存在着相对稳定的条纹分布。显然，如果干涉项远小于两光束中较小一个，就不容易观察到干涉现象，如果两光束的相位差随时间变化，是光强度条纹图样产生移动，且当条纹移动的速度快到肉眼或记录仪器不能分辨出条纹图样时，就观察不到干涉现象了。 2.1.2. 干涉条件 （1）两束光的频率应当相同 （2）两束光在相遇处的振动方向应当相同 （3）两束光在相遇处应有固定不变的相位差 2.1.3. 实现光束干涉的基本方法 （1）分波面法：将一个波列的波面分成两部分或几部分，由这一部分发出的波再相遇时，必然会产生干涉现象。杨氏双缝干涉实验就是应用的这种原理。 （2）分振幅法：利用透明薄板的第一、二表面对入射光的依次反射，将入射光的振幅分解成若干部分，当这些部分的光波相遇时就产生干涉。这是一种很常见的获得相干光、产生干涉的方法。 2.2. 衍射 2.2.1. 衍射原理 光波遇到障碍物以后或多或少的偏离几何光学传播定律的现象。光在传播路径中，遇到不透明或透明的障碍物或者小孔（窄缝），绕过障碍物，产生偏离直线传播的现象称为光的衍射。衍射时产生的明暗条纹或光环。 2.2.2. 衍射分类 衍射现象一般分两类：菲涅尔衍射和夫琅和费衍射。其中夫琅和费衍射是指光源和观察者屏离开衍射物体都为无穷远时的衍射。但因为实际做不到无穷远，所以一般要求满足光源和观察屏离开衍射物体之间的距离都远大于就能观察到夫琅和费衍射现象。其中为衍射物体的孔径，为光源的波长。 3. 干涉仪 图 1 上图是迈克尔逊干涉仪的光路示意图。 图中M1和M2是在相互垂直的两臂上放置的两个平面反射镜，其中M2是固定的； M1由精密丝杆控制，可沿臂轴前、后移动，移动的距离由刻度转盘(由粗读和细读2组刻度盘组合而成)读出。在两臂轴线相交处，有一与两轴成45°角的平行平面玻璃板G1，它的第二个平面上镀有半透（半反射）的银膜，以便将入G2也是平行平面玻璃板，与G1平行放置，厚度和折射率均与G1相同。 由于它补偿了光线⑴和⑵