分光电脑使用说明详解.doc

目 录 1、简介 ………………………………………………………………………………2 1.1功能特性……………………………………………………………………2 1.2测试规格……………………………………………………………………2 1.3操作系统支持………………………………………………………………3 1.4量测项目……………………………………………………………………3 1.5系统组成……………………………………………………………………3 2、软件功能说明 ……………………………………………………………………4 2.1加载或打开规格文件………………………………………………………4 2.1.1新建规格 ……………………………………………………………4 2.2.2加载规格 ……………………………………………………………4 2.2.3查看规格 ……………………………………………………………4 2.2权限设置……………………………………………………………………5 2.3参数设置……………………………………………………………………5 2.3.1设备参数 ……………………………………………………………5 2.3.2晶片1规格 …………………………………………………………7 2.3.3分级数据 ……………………………………………………………8 2.4校准…………………………………………………………………………12 2.4.1电性检测 ……………………………………………………………12 2.4.2参数校准 ……………………………………………………………12 2.4.3电阻检测 ……………………………………………………………14 2.5运行主界面…………………………………………………………………14 2.6诊断…………………………………………………………………………16 2.7图形…………………………………………………………………………16 2.7.1光谱图…………………………………………………………………16 2.7.2电流亮度………………………………………………………………17 2.7.3电流电压………………………………………………………………18 2.8连机输出接口图……………………………………………………………18 2.9输出BIN号时序图…………………………………………………………18 3、常见问题解答 ……………………………………………………………………20 1.简介 CF-LED-2010 LED Test System 控制系统采用工业控制电脑架构，搭配高分辨率分光光谱仪量测色度和波长，视觉函数光探测器量测光强度与一组可精密控制的电压电流电源及数字电压电流表；可量测LED的相关光学与电性参数，并可作自动极性判断,自动根据材料结构自动调整极性输出测量；本机人机界面软件交互性强，操作简单；可与任何自动测试分类机连线；提供高稳定精确快速之测试。 1.1功能特性 1、可量测波长λ=350~1100nm，光强度Iv=0~100000mcd CIE视函数探测器； 2、采用独特的白光测量方法和光学器件，更先进的白光分色技术； 3、可测试共之任何封装，两脚单晶、三晶齐纳、两脚双晶、三脚双晶、四脚三晶、四脚双晶、六脚三晶等SMD或Lamp封装； 4、量测标准可追溯至CIE127-1997、Instrument Systems、NIST和Keithley； 5、可选择积分球、函数光探测器或分光光谱仪灯光学量测感应装置； 6、即时CIE坐标图及落点显示； 7、12位恒流恒压和数字电表量之解析度； 8、电性量测电路采用Kelvin法，可避免接触电阻和线阻造成之测量误差； 9、完善的报表列印和数据统计系统； 10、全系列LED测试系统解决方案，采用PC-based装置，提供快速灵活之自动测试和人机交互界面； 11、用户可任意定义电压电流源值，测试项目上限与下限，任意安排量测值输出BIN位； 12、快捷的分级设定功能。 1.2测试规格 1、电流-电压量测： 电流源范围：0~500mA 电流源精度：±0.1%/12位 ±6uA 电压源范围：0~10V 电压源精度：±0.05%/12位 ±0.38mV 4档可程控量测增益：0.1/0.5/1.0/10.0 电压量测范围： 0~±10V/0~±1V 电压量测精度：±0.1%±2mV 2、电压-电流量测： 电压源范围：0~10V 电流源范围：0~500mA 4档可程控量测增益：0.1/0.5/1.0/10.0 电压量测范围： 0~±10V/0~±1V 电流量测范围：±0.1%±0.03uA 3、光强度量测： 范围：0~100000mcd 精度：±2% 重复性：±0.5% 4、颜