AEC-Q200培训教材讲解.ppt

AEC-Q200简介;一、背景;二、条款简要内容;2 MLCC认证要求及目的 2.1 AECQ 认证规范的目的是保证MLCC满足表1/表2测试项目的要求。;表1-认证测试样品数量要求 ;2 MLCC认证要求及目的;2 MLCC认证要求及目的;2 MLCC认证要求及目的 2.2 优先要求： 当该标准中的要求与其他文件相冲突时，可采用以下优先顺序： 1．采购订单；2.用户的个别器件规格；3.本文件标准； 4.本标准的参考文件（Military/EIA 军用级/电子工业、Industrial 工业级等）； 5.供应商的数据规格 对于被认为合格认证器件，采购订单和/或个别器件规格不能放弃或者免除本文件的要求。 2.3 满足认证和重新认证要求的通用数据的使用： 通用数据(可通过范围“4个角”获得(例如大值/温度极值/被评估的电压等) )是供应商可以使用的每个认证系列产品的特殊数据的替代品。 供应商需要对给出的器件家族的四个角的构成进行定义（例如：电容器要求的中/低/高C值，高/低值等和对用户的联系作为认证报告的一部分，这些角需要考虑不同的材料（例如：带有几种不同介电质的X7R电容器，厚度，层数，粉末的K值等），代表系列规格完成认证则可声明产品系列通过AECQ200认证。 通用数据的来源应该是供应商经鉴定过的测试实验室（认证项目均具有第三方资质），它包括内部供应商认证，用户特殊认证，以及供应商过程监控。提交的通用数据必须达到或超过表2中列出的测试条件。终端测试温度必须达到差的温度极端并满足设计的产品寿命应用。用户有终权接受通用数据来代替测试数据（包括器件的温度范围）。 2.3.1 磨损可靠性测试（寿命测试） 与寿命相关的材料和新技术无论何时被认证，其机理都必须贴合实际应用（数据、测试方法、计算和内部标准在每种新器件的认证上不需要论证和执行，但应满足用户的要求）。 注意：由于该信息包含了供应商的所有权信息，它可能会涉及机密性的协议。;2 MLCC认证要求及目的 2.4测试样品： 2.4.1批次要求：批次要求在表格1中有说明； 2.4.2生产要求：所有认证器件都应在制造场所加工处理，有助于量产时零件的传输； 2.4.3测试样品的再利用：已经用来做非破坏性认证测试的器???可以用来做其他认证测试，而做过破坏性认证测试的器件则除了工程分析外不能再使用； 2.4.4样品数量要求：用于认证测试的样品数量与（或）提交的通用数据必须与表1中指定的小样品数量和接受标准相一致。如果供应商选择使用通用数据来认证，则特殊的测试条件和结果必须报告。现有可用的通用数据应首先满足这些要求和表1中2.3节的每个测试要求。这样的通用数据必须是2年内的。如果通用数据不能满足这些要求，就要进行器件特殊认证测试。当对大量的器件进行应力测试时，禁止在可靠性测试中对产品使用夹具； 2.4.5预前应力测试和应力测试后要求：除非适用的测试的附加要求章节中有指定，预前应力测试和应力测试后只在标称温度（室温）下进行。在更高等级环境应用的认证，温度特殊值必须设有差情况和应用的设计产品寿命，即每个测试中用至少一个批次的通用数据和器件特殊数据来设置温度等级极端。例如，如果某供应商设计一种器件，有意设置在工作温度等级3环境（-40℃到+80℃），那么终端测试温度极端仅需将其作为限定，供适用的应力测试要求指定工作温度极端下的电气测试。针对更高工作温度等级环境（等级1的-40℃到+125℃）应用中的认证，要测试至少一个批次能用到附加终端测试温度极端的器件。所有的终端测试条件必须包括了给定产品系列的所有规格。 ;2 MLCC认证要求及目的 2.5应力测试失效后的定义： 测试失效定义为器件不符合用户个别的器件规格，应力测试后的测试标准规范，或是供应商的数据表，其重要性依次定义在2.2节中。任何由于环境测试导致的外部物理破坏的器件也要被认为是失效的器件。如果失效的原因被厂商和用户认为是非正确运转、静电放电或一些其他与测试条件不相关的原因，失效就算不上，但作为数据提交的一部份上报。供应商必须描述每个应力测试的参数失效标准作为向用户提交认证数据的一部分以批准。每种器件类型建议的参数清单应包含在每种器件类型测试表格的后面。 2.6通过认证测试的标准： 通过了表1和表2里所有指定相应认证测试，或通过进行指定产品测试(使用规定的少抽样数量时，接受零失效)或者证明可接受的产品系列的通用数据(使用表1中指定的系列和总需求的批次和抽样数量)，根据规范认证产品。 根据本规范，通过表1所有测试的接受标准和表2中的条件来认证。当表1中给定的测试的任何失效数量超过此程序使用的验收标准时，器件将不具有认证资格，直到在8D或者其他用户可接受格式中确定了失败根源，实施了纠正措施并确认有效。可能需要新样品或者数据来验证纠正措施。