USB冲击电流测试Fail解答.pptVIP

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2017-04-14 发布于湖北
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USB冲击电流测试Fail解答.ppt

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WINGTECH GROUP Copyright 2009 WINGTECH GROUP Copyright 2009 为科技插上翅膀专业的手机供应商 USB冲击电流测试Fail 分析报告 Contents 故障现象故障分析故障原因解决方案验证情况故障现象测试项目：6.2 冲击电流测试(Inrush) 　测试标准：参照LeCroy示波器USB测试模板。参考文档：USB_IF_USB_2_0_Electrical_Test_Spec 测试结果： Overall result: fail! Inrush at 5.000 V: 20638.6912 mC *** Inrush failure! *** (at 5.000 V, maximum compliant inrush is 50.0000 mC) Region 1 Start: 0.00004 s - End: 0.100 s = 2.064e+004 mC 故障分析故障分析测试方法： 1。样机整机，装入电池。 2。准备好仪器记录插入USB数据线，流过VBUS的电流。 3。将USB数据线插入整机，得到测试图形和数据。 4。工具分析，将超过100mA的电流数据和时间做积分运算，得到测试结果。从T7320测试波形上来看，电流一开始一直小于100mA，之后跳变到300mA，且维持在300mA。这300mA其实是USB的充电电流，USB的冲击电流是一直小于100mA的，但是测试规范里面是将超过100mA的电流作为冲击电流。在T7320测试中，误将300mA的充电电流作为冲击电流来计算测试结果。故障分析从硬件电路来看，在VCHG信号上，我们预留了滤波电容的位置，滤波电容越大，冲击电流越大，展讯为了改善冲击电流，在芯片内部做了优化，建议我们不用贴外部的滤波电容C801。故障分析在PCB不贴外部滤波电容的情况下，冲击电流一直小于100mA，需要外部贴一个1uF-10uF的电容，确保冲击电流有大于100mA的情况，且冲击电流和时间的积分满足小于50mC的要求。 PCB最终贴滤波电容的规格如下： 802167300031 片状陶瓷电容 CAP CER X5R;2.2uF;±10%;16V;0603;0.9mm;ROHS GRM188R61C225K**** Murata 1 C801 故障原因从上面的分析和验证来看，USB冲击电流测试FAIL是因为VCHG信号上没有滤波电容，导致冲击电流小于100mA，而测试工具误将300mA的充电电流当做冲击电流来计算测试结果。解决方案更新BOM，将C801由NC改为贴2.2u电容。 802167300031 片状陶瓷电容 CAP CER X5R;2.2uF;±10%;16V;0603;0.9mm;ROHS GRM188R61C225K**** Murata 1 C801 验证情况将C801贴2.2uF电容，USB冲击电流测试通过。 WINGTECH GROUP Copyright 2009 WINGTECH GROUP Copyright 2009