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* 一个可接受的过程必须是处于统计受控状态的，且其能力（普通原因变差）必须小于公差。 理想的情况是1类的过程，该过程统计受控且有能力满足公差要求，此类过程最好； 2类过程是受控过程，但因普通原因造成的变差过大，必须减少。 3类过程符合要求可接受，但不是受控过程，需要识别变差的特殊原因加以消除。 4类过程即不是受控过程又不可接受，必须减少变差的普通原因和特殊原因。此类过程最差。 * 在有些情况下，顾客也许允许制造商运行第三类过程，这可能源于： 顾客对规范之内的变差不敏感； 对特殊原因采取措施所发生的成本比任何顾客所得到的利益大，因经济上的考虑，可允许存在的特殊原因包括刀具磨损、周期的（季节的）变化等。 * 过程能力指数 Cp Cpk Pp Ppk Cm Cmk 过程被证明处于统计控制状态后，方可计算过程能力（有特殊 原因作用时，使过程能力预测失效）。 能力指数是产品规范与统计分布宽度之比计算得到的Pp、 Ppk 是短期的能力指数，也称性能指数。常用于初始过程能力研究， 是以从一个操作循环中获取的测量为基础的。 这种研究常用于验证由顾客提出的过程中生产出来的首批产品 Cm、Cmk是机器能力指数。是用来验证一个新的或经过修改的 设备的实际性能是否符合工程参数。 Cp、Cpk是长期的能力指数。是通过很长一段时间内进行的测 量，应在足够长的时间内收集数据（可以包括短期研究时没有 观察到的变差原因），将数据画在控制图上，如未发现变差特 殊原因，便可计算长期的能力指数。 * 在试生产过程中，分析控制特殊特性的过程能力（PPK、CPK），能力不足（PPK ≤1.67 、CPK ≤1.33）时，必须制定和实施纠正措施计划。 在批量生产过程中，使用控制方法（如控制图）确保特殊特性处于受控状态、预防不合格的产品； 控制图分为计量型和计数型两大类。 * 一般过程 输入 操作 输出 ?测量过程 标准 ▲ 人员 ▲ （评价人） 仪器 ▲ 测量 分析 决定 （量具） 数 值 工作件▲ （零件） 程序 ▲ 环境 ▲ * 为什么要对测量系统进行分析? 测量数据的质量： 数据的质量取决于多次测量的统计特征：偏倚及变差。 高质量数据——对某一特定特性值进行多次测量的数值均 与该特性的参考值“接近”。 低质量数据——测量数据均与该特性的参考值相差“很远”。 理想的测量系统——零偏倚、零变差。 理想的测量系统不存在，为什么? 由于测量系统变差源：标准、人员（评价人、）仪器 （量具）、工作件（零件）、程序（方法）、环境的作用结果，使得观测到的过程变差值与实际的过程变差值不相等。 * 实际过程的变差 生产用量具的变差 σ2 观 =σ2实 +σ2测 由于变差源的作用结果 因此: σ2 观 σ2实 为此，我们要对测量系统进行分析，要识别测量系统的普通原因和特殊原因，以便采取决策措施，使测量系统的变差减小到最小程度，使得测量系统观测到的过程变差值尽可能接近和真实地反映过程的变差。这就要求，测量系统的最大（最坏）的变差必须小于过程变差或规范公差。 式中: σ2观： 观测到的过程标准差 σ2实：实际的过程（零件）标准差 σ2测: 测量系统标准差 * 如果测量出现问题，那么合格的产品可能被判为不合格，不合格的产品可能被判为合格，其后果可想而知。 测量设备经检定或校准合格后，在实际使用环境下由于人、机、料、法、环等方面的原因，仍会产生测量误差。 必须按MSA手册中规定的方法和判定准则对测量产品的测量系统进行分析，确定测量结果的变差是否足够小，降低产品误判的概率。 对测量系统分析要分析什么？ 测量变差通常分为（五性）： Bias 偏倚; Repeatability 重复性 Reproducibility再现性