01—x射线分析方法进展.pptVIP

X射线分析技术概论;引言 X射线分析技术的应用范围非常广泛，现已渗透到材料、物理、化学、地质、生命科学以及各种工程技术中，成为一种重要的实验手段和分析方法。近些年，X射线分析方法有较大发展。 随着机械及微电子技术的发展，仪器设备的不断改进，检测精度及可靠性逐渐提高，尤其是同步辐射光源的出现以及计算机技术的引入，构成了近代X射线分析技术。;广义的X射线分析技术至少包括： X射线衍射与散射(XRD) X射线吸收精细结构(XAFS) X射线荧光即波谱分析(XRF) X射线光电子能谱(XPS) 这里，仅对X射线衍射方面的技术发展概况，进行简要的介绍。;一、发展简史 二、应用概况 三、未来发展动向 四、我国科学家的贡献 五、几点应用要领;一、发展简史 (1)基础理论 德国物理学家伦琴于1895年偶然发现了一种不可见的辐射线，称之为X射线。;1896年2月8日，X射线在美国首次用于临床诊断; 1912年劳厄等发现X射线衍射现象，证实X射线的电磁波本质及晶体原子的周期排列。 随后，布拉格进行了深入研究，认为各衍射斑点是由晶体不同晶面反射所造成的，导出了著名的布拉格定律。; 以劳厄方程和布拉格定律为代表的X射线晶体衍射几何理论，不考虑X射线在晶体中多重衍射与衍射束之间以及衍射束与入射束之间的干涉作用，称为X射线运动学理论。 厄瓦