MC SYSTEM-第三章 重量分析法.PPTVIP

第三章 重量分析法; 第一节 概述;第二节 挥发重量法;第二节 挥发重量法;第二节 挥发重量法;第三节 萃取重量法;分配比; 萃取的完全程度。即： 当溶质A的水溶液用有机溶剂萃取时，如已知水相的体积为V水，有机相的体积为V有，则萃取率可表示为： 把上式分子分母同除以C水V有得：若使V有＝V水，则简化为： ; 在实际工作中，对于分配比较小的溶质，采取分几次加入溶剂，连续几次萃取的办法，以提高萃取效率。如果每次用V有毫升有机溶剂萃取，共萃取n次，水相中剩余被萃取物质的量减少至Wn克。则; 用90ml溶剂分三次萃取，则剩余物质质量和萃取效率分别为： ;第四节 沉淀重量法; 过滤、洗涤 ;第四节 沉淀重量法;第四节 沉淀重量法;第四节 沉淀重量法; 若加入过量H2SO4，使沉淀后溶液中的[SO42-] =0.010 mol·L-1，则溶解度为： S=[Ba2+]=Ksp/[SO42-]=1.1×10-8 mol·L-1 在200mL溶液中的损失量为： 1.1×10-8 mol·L-1×200mL×233.4g · mol -1=0.0005mg;第四节 沉淀重量法;第四节 沉淀重量法; 图示;第四节 沉淀重量法; 讨论： 配位效应促使沉淀 - 溶解平衡移向溶解一方， 从而增大溶解度 当沉淀剂本身又是配位剂时，应避免加入过多 配位效应与沉淀的溶解度和配合物稳定常数有关，溶解度越大，配合物越稳定， 配位效应越显著;A．温度： T↑ ，s ↑ ，溶解损失↑ （好处：可减少损失； T↑， 吸附杂质少，相对过饱和度小，可获较大晶形）（合理控制） B．溶剂极性：溶剂极性↓ ，s↓，溶解损失↓ （加入有机溶剂） C．沉淀颗粒度大小： 同种沉淀，颗粒↑ ，s↓ ，溶解损失↓（粗大晶体） D．胶体形成： “胶溶”使s↑，溶解损失↑（加入大量电解质可破坏之）;第四节 沉淀重量法; （1）表面吸附 吸附共沉淀：沉淀表面吸附引起杂质共沉淀 在沉淀的内部，每个构晶离子都被带相反电荷的离子所包围，并按一定规律排列，整个沉淀内部处于静电平衡状态。但在沉淀表面上，至少有一个面没被包围，特别是棱、角，表面离子电荷为不完全平衡，由于静电引力作用，使它们具有吸附带相反电荷离子的能力，形成吸附层。然后，吸附层的离子，通过静电引力再吸引溶液中其他带相反电荷的离子，组成扩散层。 ;;吸附规则 第一吸附层：先吸附过量的构晶离子 再吸附与构晶离子大小接近、电荷相同的离子 浓度较高的离子被优先吸附 第二吸附层：优先吸附与构晶离子形成的盐溶解度小的离子 离子价数高、浓度大的离子，优先被吸附 ; 沉淀吸附杂质量与下列因素有关：  ;（2）形成混晶：存在与构晶离子晶体构型相同、离 子半径相近、电子层结构相同的杂质离子，沉 淀时进入晶格中形成混晶;（3）吸留或包藏：沉淀速度过快，表面吸附的杂质 来不及离开沉淀表面就被随后沉积下来的沉淀所覆盖，包埋在沉淀内部，这种因吸附而留在沉淀内部的共沉淀现象称为吸留。 母液直接被机械地包裹在沉淀中，称为包藏。;2．后沉淀： 溶液中被测组分析出沉淀之后在与母液放置过程中， 溶液中其他本来难以析出沉淀的组分（杂质离子） 在该沉淀表面继续沉积的现象。; 后沉淀的特点： ( 与共沉淀的区别 ) (1) 引入杂质的量与陈化时间有关，陈化时间愈长，引入杂质量愈多。而共沉淀量受放置时间影响较小 (2) 温度升高，后沉淀现象有时更严重。(3) 后沉淀引入杂质的程度，有时比共沉淀严重的多。;3．提高沉淀纯度的措施;第四节 沉淀重量法;第四节 沉淀重量法;晶核的形成 过饱和状态：当溶液中的构晶离子浓度的乘积大于该条件下沉淀的溶度积时 均相成核（自发成核）：构晶离子因离子间的缔合作用自发地聚集而从溶液中产生晶核 异相成核：由于溶液中的细小颗粒（如尘埃、不溶性杂质、器壁上粘附的细小颗粒等）的诱导作用，构晶离子在其表面聚集而构成晶核;晶核的生长 溶液中有了晶核后，过饱和溶液中的溶质就可在晶核上沉积出来，晶核逐渐长成↓颗粒。 由离子聚集成晶核，再进一步堆积形成肉眼可见的沉淀微