實验 金属电子逸出功的测定.pptVIP

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  • 2017-04-20 发布于上海
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實验 金属电子逸出功的测定

实验3.11 金属电子逸出功的测定;实验目的:;W-Ⅲ型电子逸出功测定仪 理想二极管 ;实验原理:;(4)热电子发射既与发射电子的材料的温度有关,也 与阴极材料有关。;( 5)根据费密-狄拉克分布可以导出热电子发射遵循的理查 孙-杜西曼(Richardson—Dushman)公式(无外电场时 的热电子发射公式); 原则上我们只要测定I、A、S和T,就可以根据(1)式计算出阴极材料的逸出功。但困难在于A和S这两量是难以直接测定的,所以在实际测量中常用下述的理查孙直线法,以设法避开A和S的测量,这是一种数据处理的巧妙方法,非常有用。 ;2、理查孙直线法;3.从加速场外延求零场电流;将电场E用电压V来代替得:;如果以lgIa为纵坐标,以 为横坐标作图,如图5所示,此直线的延长线与纵坐标的交点,即截距为lgI0。由此即可求出在一定温度下,加速电场为零时的热发射电流I0。;??验内容及步骤:;5.二极管的灯丝电流,每次增加0.050A,重复上述测 量,直至0.800A。每改变一次灯丝电流都要预热5 分钟 。 6.测得的数据填入表格,进行数据处理 。;在不同灯丝电流和阳极电压时测得的阳极电流值;上表数据的换算值;在不同灯丝温度时的零场电流及其换算值;注意事项:;思考题:;作业:

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