扫描电镜实例选编.pptVIP

表面形貌衬度原理及其应用;;（一）断口分析;图2 37SiMnCrNiMoV钢韧窝断口的二次电子像; 图3 低碳钢冷脆解理断口的二次电子像; 图4 碳纤维增强陶瓷复合材料断口的二次电子像 ;（二）样品表面形貌; 图5给出三种成分ZrO2-Y2O3陶瓷烧结自然表面的扫描电镜照片。图(a)成分为ZrO2-2mol%Y2O3，烧结温度1500℃，为晶粒细小的正方相。图(b)为1 500℃烧结ZrO2-6mol%Y2O3陶瓷的自然表面形态，为晶粒尺寸较大的单相立方相。图(C)为正方相与立方相双相混合组织，细小的晶粒为正方相，其中的大晶粒为立方相。 ; 图6 Al3O2+15%ZrO2陶瓷烧结表面的二次电子像;;　　图7为经抛光腐蚀之后金相样品的二次电子像，可以看出其分辨率及立体感均远好于光学金相照片。光学金相上显示不清的细节在这里可以清晰地显示出来，如珠光体中的Fe3C与铁素体的层片形态及回火组织中析出的细小碳化物等。;（三）材料变??与断裂动态过程的原位观察;　　图8为双相钢拉伸断裂过程的动态原位观察结果。可以看出，铁素体首先产生塑性变形，并且裂纹先萌生于铁素体(F)中，扩展过程中遇到马氏体(M)受阻。加大载荷，马氏体前方的铁素体中产生裂纹，而马氏体仍没有断裂，继续加大载荷，马氏体才断裂，将裂纹连接起来向前扩展。 ;图9 Al3Ti/ ( Al-Ti)复合材料断裂过程原位观察(灰色颗粒为Al3Ti增强相);原子序数衬度原理及其应用;在原子序数Z小于40的范围内,背散射电子的产额对原子序数十分敏感。在进行分析时，样品上原子序数较高的区域中由于收集到的背散射电子数量较多，荧光屏上的图像较亮。因此，利用原子序数造成的衬度变化可以对各种金属和合金进行定性的成分分析。样品中重元素区域相对于图像上是亮区，而轻元素区域则为暗区。 用背散射电子进行成分分析时，为了避免形貌衬度对原子序数衬度的干扰，被分析的样品只进行抛光，而不必腐蚀。;;二、吸收电子的成像;铁素体基体球墨铸铁拉伸断口的背散射电子像和吸收电子像 (a)背散射电子像，黑色团状物为石墨相; (b)吸收电子像，白色团状物为石墨相