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电子行业标准 SJ 2089-82电子测量仪器型号命名方法SJ/Z 2091-82信息处理交换用七位编码字符集 键盘的常用控制键、功能键的排列和接口SJ 2092-82ＣＳ３５型Ｎ沟道结型场效应小功率半导体开关三极管SJ 2093-82ＣＳ３６型Ｎ沟道结型场效应小功率半导体开关三极管SJ 2094-82ＣＳ３７型Ｎ沟道结型场效应小功率半导体开关三极管SJ 2095-82ＣＳ３８型Ｎ沟道结型场效应小功率半导体开关三极管SJ 2096-82ＣＳ３９型Ｎ沟道结型场效应小功率半导体开关三极管SJ 2097-82ＣＳ４０型Ｎ沟道结型场效应小功率半导体开关三极管SJ 2098-82ＣＳ４１型Ｎ沟道结型场效应小功率半导体开关三极管SJ 2099-82ＣＳ４２型Ｎ沟道结型场效应小功率半导体开关三极管SJ 2100-82ＣＳ４３型Ｎ沟道结型场效应小功率半导体开关三极管SJ 2101-82ＣＳ４４型Ｎ沟道结型场效应小功率半导体开关三极管SJ 2102-82ＣＳ４５型Ｎ沟道结型场效应小功率半导体开关三极管SJ 2103-82ＣＳ４６型Ｎ沟道结型场效应小功率半导体开关三极管SJ 2104-82ＣＳ４７型Ｎ沟道结型场效应小功率半导体开关三极管SJ 2105-82ＣＳ４８型Ｎ沟道结型场效应小功率半导体开关三极管SJ 2106-82ＣＳ４９型Ｎ沟道结型场效应小功率半导体开关三极管SJ 2107-82ＣＳ５０型Ｎ沟道结型场效应小功率半导体开关三极管SJ 2108-82ＣＳ５１型Ｎ沟道结型场效应小功率半导体开关三极管SJ 2109-82CKM-29B、CKM-29C、CKM-29D、CKM-29E、CKM-29F、CKM-29G型脉冲磁控管SJ 2112-82厅堂扩声系统设备互联的优选电气配接值SJ 2124-82弹性管联轴节SJ 2125-82十字滑块联轴节SJ 2126-82波纹管联轴节SJ 2127-82薄膜联轴节SJ 2130-82电子束管屏内刻度SJ 2131-82洁净工作台通用技术条件SJ 2133-82氧化物阴极加速寿命试验方法SJ 2137-82硅稳流二极管测试方法总则SJ 2138-82硅稳流二极管稳定电流的测试方法SJ 2139-82硅稳流二极管动态阻抗的测试方法SJ 2140-82硅稳流二极管极限电压的测试方法SJ 2141-82硅稳流二极管击穿电压的测试方法SJ 2142-82硅稳流二极管电流温度系数的测试方法SJ 2148-82硅稳流三极管动态阻抗的测试方法SJ 2152-82烧结含油轴承SJ 2154-82薄膜集成电路用微晶玻璃基片SJ/Z 2165-82单相Ｃ型铁芯电源变压器和滤波阻流圈典型计算SJ 2168-82涂覆用环氧粉末SJ 2170-82一般电子产品运输包装基本试验方法 总则SJ 2176-82电子产品防潮包装容器透湿度试验方法SJ 2179-82压电滤波器术语和定义SJ 2182-82压电滤波器总技术条件SJ 2193-82整流滤波阻流圈电气参数系列SJ 2194-82ＣＤＬ－１００／Ｃ型Ｃ型铁芯滤波阻流圈（电容输入式）SJ 2195-82ＣＤＬ－１００／Ｌ型Ｃ型铁芯滤波阻流圈（电感输入式）SJ 2196-82地面用硅太阳电池电性能测试方法SJ 2197-82地面用标准硅太阳电池的标定SJ 2199-82电声器件名词术语SJ 2206-82Ｋ－２１系列反射速调管SJ 2214.1-82半导体光敏管测试方法总则SJ 2214.2-82半导体光敏二极管正向压降的测试方法SJ 2214.3-82半导体光敏二极管暗电流的测试方法SJ 2214.4-82半导体光敏二极管反向击穿电压的测试方法SJ 2214.5-82半导体光敏二极管结电容的测试方法SJ 2214.6-82半导体光敏三极管集电极－发射极反向击穿电压的测试方法SJ 2214.7-82半导体光敏三极管饱和压降的测试方法SJ 2214.8-82半导体光敏三极管暗电流的测试方法SJ 2214.9-82半导体光敏二、三极管脉冲上升、下降时间的测试方法SJ 2214.10-82半导体光敏二、三极管光电流的测试方法SJ 2215.1-82半导体光耦合器测试方法总则SJ 2215.2-82半导体光耦合器（二极管）正向压降的测试方法SJ 2215.3-82半导体光耦合器（二极管）正向电流的测试方法SJ 221