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2017-04-26 发布于天津
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测试条件: Cin=Cout=22uF/16V X5R MLCC,D=SS34LX2,L=3.3uH(SLF7055T_TDK) Vin(V) Iout(mA) Iin(mA) Vout(V) η(%) Vin(V) Iout(mA) Iin(mA) Vout(V) η(%) 4.2 900 1152 4.998 92.97% 3.3 900 1501 4.998 90.81% 4.2 1000 1281 4.998 92.90% 3.3 1000 1675 5 90.46% 4.2 1100 1414 4.998 92.57% 3.3 1100 1852 5 89.99% 4.2 1200 1543 4.998 92.55% 3.3 1200 2029 5 89.61% 4.2 1300 1679 4.998 92.14% 3.3 1300 2211 5.001 89.10% 4.2 1400 1810 4.998 92.04% 3.3 1400 2396 5.002 88.57% 4.2 1500 1946 4.998 91.73% 3.3 1500 2583 5.004 88.06% 4.2 1600 2078 4.998 91.63% 3.3 1600 2775 5.006 87.46% 4.2 1700 2210 4.998 91.54% 3.3 1700 2969 5.007 86.88% 4.2 1800 2351 4.998 91.11% 3.3 1800 3170 5.009 86.19% 4.2 1900 2485 5 91.02% 3.3 1900 3375 5.011 85.49% 4.2 2000 2620 5.001 90.89% 3.3 2000 3585 5.014 84.76% 4.2 2100 2765 5.001 90.43% 3.3 2100 3808 5.017 83.84% 4.2 2200 2901 5.001 90.30% 3.3 2200 4037 5.02 82.90% 3.3 2300 4051 4.768 82.03% Vin(V) Iout(mA) Iin(mA) Vout(V) η(%) 3.7 900 1322 4.999 91.98% 3.7 1000 1473 4.999 91.72% 3.7 1100 1626 4.999 91.40% 3.7 1200 1778 5 91.20% 3.7