09统计过程-控制(下).pptVIP

;第九章 统计过程控制（重点）;学习目标;9.6 变差的可查明原因的八种模式分析;判断异常的检验准则;判断异常的检验准则;判断异常的检验准则;判断异常的检验准则;判异准则;9.7 统计控制状态的判断;判稳准则的设计思想;9.8 常规控制图判断准则的使用;过程能力：也称工序能力 过程的加工水平满足技术标准的能力，衡量过程加工内在一致性的标准，通常用6σ表示。 过程能力指数Cp：表示过程能力满足技术标准的程度，通常表示为PCI或Cp。 工序能力指数：工序能力满足产品技术标准（产品规格、公差）的程度。 双侧无偏过程能力指数：Cp=T/6σ= (TU-TL)/6σ;问题： Cp=1时，是不是意味着不良品率为0？ 质量特性标准的上、下限与±3 σ重合，由正态分布的概率函数可知：此时的不合格品率为0.27%。;PPM（百万分点） 不合格品率常用百分点（%）、千分点（‰）表示。 但对于高质量产品，用%和‰还兼单位过大，因此，引出百万分点或百万分率。记为ppm，比如：;Cp愈大，说明过程能力愈充足，产品质量愈高，但这时对设备、原料和操作人员要求也愈高，加工成本也愈大。所以Cp值定于何值要看需要与可能，一般能使Cp在1.33左右已是一个很好的过程。;例题：过程能力指数的计算;当分布中心与公差中心重合时，工序能力指数记为Cp。 当分布中心与公差中心有偏离时，工序能力指数记为Cpk。 当给定双向公差，分布中心X与公差中心M一致时， Cp = T / 6S =（TU-TL）/ 6S 当给定双向公差，质量数据分布中心X与公差中心M不一致时，即存在中心偏移量（ε），则按下式计算： Cpk = (T-2ε) / 6S 其中，ε=|M-X| 或Cpk = (T-2ε)/6S = T/6S - 2ε/6S = T/6S（1-2ε/T） = Cp（1-k) 其中，k=2ε/T ;S=0.005，求工序能力指数。;单侧规格的过程能力指数 CpU=(TU-μ)/3σ CpL=(μ-TL)/3σ 有偏移情况的过程能力指数 CpK = min(CpU， CpL) ;过程（工序）能力等级：;质量的四个等级;9.10 常规控制图及其应用（重点）;计量特性值控制图：均值-极差控制图;极差控制图; 均值-极差控制图：根据样本规模n可查表获得样本参数， 分别计算出均值和极差控制图控制线。;均值-标准差控制图;单值-移动极差控制图;计量???控制图系数表;计数值数据控制图：p图;计数值数据控制图：np图u图c图;p-图：控制产品的不合格品率，如: 好或坏；通过或失败 工作或不工作 np-图:不合格品数控制图 c-图：控制产品的缺陷数，如: 擦痕，碎裂，凹陷或每件产品上的缺陷数 u-图：控制单位产品的缺陷数，如: 单位体积（如平方米）内的细菌或污染物数 单位时间内的呼叫、报怨、失效、设备故障等;常规控制图应用举例（重点）;例题：控制图的实施方法;;1、共收集到25组样本数据，n=5 2、计算出均值和极差，填入表格 3、计算观测值的总平均值、平均极差 4、计算控制线，绘制 控制图 先计算R图的参数, 当样本量n=5时,查表得：;代入R图,得到： 由R图可见,R图稳定,故可建立 图。 当n=5时,查表得，并代入：; 第一张判稳分析的极差控制图; 控制图的上下控制限： 第13个样本的 小于LCL,故过程均值失控。 控制图分析 均值控制图中第13组数据在下控制线外 调查原因发现是夹具松动,并且很快进行了调整; 第一张判稳分析的均值控制图;重新计算R图和 图的参数 代入R图和 图,计算得到 此时,极差控制图第17组数据在上控制线外。依据“20字”原则。去掉第13组、17组数据，将其余23组重新制图。;24;23;23;5.过程能力分析 此时过程的波动情况与均值都处于稳定状态 把全部预备数据做直方图并与规范进行比较 已知给定质量规格为：TL=140，TU=180 ;由控制图得到的稳态下： 已知给定质量规格为：TL=140，TU=180 计算过程能力指数： Cp = T / 6σ = ( TU - TL ) / 6σ 其中，查表得n=5时：d2 = 2.326 Cp = ( TU - TL ) / 6σ=(180-140)/(6×5.77) = 40/34.62 = 1.16;例题：过程能力分析;由于规格中心：M=（TL+TU）/2 =（140+180）/2 = 160 ε=|M-X| = |160-163.65| = 3.65 Cpk = (T-2ε)/6σ= [(180-140)-3.65×2]/（6×5.77）