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2017-04-26 发布于重庆
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553450ARhT60℃存储过程中鼓胀分析报告1

553450ARhT 60℃存储模拟试验分析报告一、模拟试验结果分析：从实验结果看，所有电芯在老化过程中，主要发生的是电压下降，内阻上升，此两种反应，产生一定量的气体，导致厚度增加。但是幅度并不大，平均水平变化幅度为电压下降 5.4%，内阻上升 48%，厚度增加 30%，如图 1；电芯的的厚度平均数据变化随着时间变化趋势如图 3 所示。图 2，是另一款产品在 35℃存储 24 月时间的三项指标变动情况，与图 1 变动趋势基本一致。? 60.00 57.0 80 75.4 75 70 50.00 65 60 40.00 55 50 37.6 45 30.00 40 35 38.0 30 20.00 6.88 25 8.73 3.91 20 10.00 15 3.9 5.25 10 5.3 4.18 静置60天 5 4.17 24个月后 0.00 0 厚度静置前厚度静置前电压电压内阻内阻图 1、满电电芯 60℃存储 60 天图 2 满电电芯 35℃存储 24 月 7.00 6.80 6.60 6.40 6.20 6.00 5.80 5.60 5.40 5.20