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17401750微欧计测试附件
1740/1750 微欧计测试附件
MKP/1750-5 型四线探针
该型号非常适合对平面进行四线式电阻测试。探针前端标有“sense”和“force”的标识，保证用户避免误操作。每个表笔前端有两个带弹簧的针
尖，可以灵活的与测试表面进行接触。TEGAM 提供 5 种针尖的形式供用户选择，而用户可以方便对针尖进行更换。该测试表笔总长 1.5m，
针尖间距是 2.8mm.
可选测试针尖:P/N MKP-B, MKP-F, MKP-H, MKP-J, MKP-LM (每个型号包包含四个)(如图) Spear
(型号 MKP/1750-5 不包含测试针尖，测试针尖需要单独订购)
Flat
Serrated
Spherical Radius
Star with Ratator Option
MKP/1750-5 四线探针） 带 B 型针尖）
MKP/1750-5 针尖选型
Red Dot
V- I-
V+ Drive
I+ Guard Sense(Label Side)
MKP/1750-5 表笔尺寸 MKP/1750-5 接头电气定义
MCP/1750-5型四线同轴探针
该型号非常适合对小尺寸的被测件进行低电阻测试，其前端有一个带弹簧的中心针尖和环状的外针组成，固定的环状外针为测试提供驱动
电流，可伸缩的中心针尖用于电压探测。该表笔带有两套测试探针，同时这套测试探针是可以更换的。测试线总长1.5m。环状外针直径是
1.5mm,内针尖直径0.4mm。
可选的替换探针: P/N MCP-A (2套)
MCP/1750-5
四线同轴探针
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