玉米叶片重金属铜污染的EDTDSGA光谱分析模型.PDFVIP

２０１７年 ４月 农 业 机 械 学 报 第 ４８卷 第 ４期 ｄｏｉ：１０．６０４１／ｊ．ｉｓｓｎ．１０００１２９８．２０１７．０４．０２０ 玉米叶片重金属铜污染的 ＥＤ Ｔ ＤＳＧＡ光谱分析模型 杨可明　张文文　程　龙　王晓峰　赵骏武 （中国矿业大学（北京）地球科学与测绘工程学院，北京 １０００８３） 摘要：监测农作物的重金属污染和污染程度是高光谱遥感研究的一个热点。通过盆栽玉米的不同 Ｃｕ２＋胁迫梯度 实验，在测定玉米叶片光谱和 Ｃｕ２＋含量的基础上，针对不同 Ｃｕ２＋胁迫梯度下玉米叶片光谱仍具有极高相似度以及 传统光谱测度方法难以区分污染程度的问题，进行相似光谱的差异性有效区分方法研究。结合欧氏距离 （