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- 2017-04-28 发布于浙江
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第四章(09自相关)新
第四章 自相关性;第一节 自相关性及其产生的原因 ;
1、遗漏了重要的解释变量。
2、经济变量的滞后性(惯性)。
3、模型形式设定不当。
4、随机因素的影响。
5、数据处理造成的自相关。
; 随机误差项的自相关性可以有多种形式, 其一般形式可以表示成:
μt=ρ1μt-1+ρ2μt-2+…+ρpμt-p+νt
称之为p阶自回归形式,或模型存在p阶自相关。 ; 第二节 自相关性的后果 ;第三节 自相关性的检验;按照时间顺序绘制回归残差项的et图形:如果et随着t 的变化逐次有规律地变化,呈现锯齿形或循环形状的变化,就可断言et存在相关,表明存在着序列相关;如果et随着t的变化逐次变化并不断地改变符号,那么随机误差项μt存在负的序列相关。如果et随着t的变化逐次变化并不频繁地改变符号,而是几个正的et后面跟着几个负的,则表明随机误差项存μt在正的序列相关在方程窗口中点击Resids按钮,或者点击View\ Actual,Fitted,Residual\ Tabel,都可以得到残差分布图。;(2)构造检验统计量: ;所以有: ; 根据样本容量n、解释变量k在给定的显著水平下,建立了DW检验统计量临界值的下限dL和上限dU,并编制了DW检验的上、下限表(附表1)。所以,DW检验的实际检验过程为(见下图):
;使用D-W检验时应注意以下几个问题。 ;三、高阶
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