X射线在位错和缺陷表征中的应用探究.ppt

探索与创新;Contents;引言;缺陷对晶体性质的影响却非常大。例如，它影响到晶体的力学性质、物理性质（如电阻率、扩散系数等）、化学性质（如耐腐蚀性）以及冶金性能（如固态相变）等。位错是晶体中最重要的一种缺陷，对晶体（特别是金属晶体）的各项性能（特别是力学性能）有很大的影响。因此对晶体微观缺陷采用有效方法进行表征是非常必要的。;二、X射线形貌术;实验原理;实验原理;X射线形貌术主要的实验方法;;;形貌图的分析大致包括下列内容：;;;;1mm厚冰晶形貌图 A transmission topograph through an ice crystal about 1 mm thick.; X射线形貌术的优点：;;缺点;三、位错密度的测量; 晶体材料位错的描述, 一般采用Mosaic 模型, 包括水平关联长度、垂直关联长度、扭转角度和倾转角度四个变量, 而螺位错和刃位错两种主要位错的密度都可用这四个变量得到。;螺位错密度为 当考虑刃位错在晶体???的随机分布时，其密度 当考虑刃位错只分布在镶嵌结构颗粒的边缘时，密度为;广泛应用Williamson-Hall(WH)作图法来精确地测量这四个参数。 WH法的线性拟合公式： FWHM表示各扫描峰的半峰宽； 和 分别代表垂直、水平关联长度；θ为衍射角；λ为X射线波长；αt表示镶嵌结构倾斜角；εin为生长方向上的非均匀应变。;由于应变和位错之间的联系，通过研究晶格的应变张力而得到位错密度也是一种方法。通过 XRD的 和ω扫描，可以得到了五个晶格应变的分量，结合水平和垂直方向的关联长度，可以得到位错密度的信息。;*