粉体资料复习-13材化完善版教程.docx

第一章 绪论 1.粉体学的重要意义（对应“粉体及其技术的重要性”） 粉体是许多材料构成、组分或原料； 粉体技术是制备材料的基础技术之一； 超细粉体材料，尤其是纳米粉体材料在新型材料的开发研究中越来越重要； 粉体容易大批量生产处理，产品质量均匀，成本低，控制精确，成为许多人工合成材料必然选择的合成方法。 2.颗粒的定义：是在一特定范围内具有特定形状的几何体。大小一般在毫米到纳米之间，颗粒不仅指固体颗粒，还有雾滴、油珠等液体颗粒。 3.粉体的定义：大量颗粒的集合体，即颗粒群，又称粉末（狭义的粉末是指粒度较小的部分）。 颗粒与粉体的关系：颗粒是粉体的组成单元，是粉体中的个体，是研究粉体的出发点。颗粒又总是以粉体这种集合体的形式出现，集合体产生了个体所所不具有的性质。 4.粉体学的特点：以粉体为研究对象，研究其性质及加工利用技术。 5.粉体技术包括：制备、加工、测试。制备有各种物理、化学、机械方法；加工作业有粉碎、分级、分散、混合、制粒、表面处理、流态化、干燥、成形、烧结、除尘、粉尘爆炸、输运、储存、包装等；测试对粉体各种几何、力学、物理、化学性能表征。 6.粉体的存在状态：通常所指的粉体是小尺寸的固体，但气体中的液滴、液体中的气泡也属于颗粒；固态的物质中又分为分散态和聚集态，多数粉体为分散态。 7.粉体的分类： 按照成因分类：天然粉体与人工粉体 按制备方法分类：机械粉碎法和化学法粉体 按分散状态分类：原级颗粒（一次颗粒）、聚集体颗粒（二次颗粒）、凝聚体颗粒（三次颗粒）、絮凝体颗粒 按颗粒大小（粒径）分类：粗粉体（0.5mm）、中细粉体（0.074~0.5mm）、细粉体（10~74μm）、微粉体（0.1~10 μm ）、纳米粉体（100nm） 第二章 粉体的几何性质 1.粒度定义：粒度是指粉体颗粒所占空间的线性尺寸。 2.颗粒尺寸常用的表征方法：三轴径、定向径、当量径、 3.粉体平均粒径计算公式： 4.粒度分布及其表示方法： 粒度分布依据的统计基准： 个数基准分布(又称频度分布) 以每一粒径间隔内的颗粒数占颗粒总数的比例。 长度基准分布 以每一粒径间隔内的颗粒总长度占全部颗粒的长度总和的比例。 面积基准分布 以每一粒径间隔内的颗粒总表面积占全部颗粒的总表面积的比例。 重量基准分布 以每一粒径间隔内的颗粒总重量占全部颗粒的总重量的比例。 表征粒度分布的方法：列表法，作图法、矩值法和函数法。 其中函数法是最精确的粒度描述方法（即用概率理论或者近似函数的经验法莱寻找数学函数） 5．形状因子：为形状表征量，无量纲常数，有形状指数和形状系数。 形状指数 是指颗粒几何参数的无量纲组合。它与形状系数相比没有明确的物理意义。 形状系数：颗粒的表面积、体积、比表面积等几何参数与某种规定粒径dp的相应次方的比例关系。 6.常用粒度测量方法及其他优缺点： 筛分析法（一般40μm），其中最细的是400目，孔径为38μm； 优点：统计量大、代表性强；便宜；重量分布。 缺点：粒度下限为38μm；人为因素影响大；重复性差；非规则形状粒子误差；速度慢。 显微镜法：采用定向径方法测量。 光学显微镜0.25——250μm；电子显微镜 0.001——5μm； 优点：可直接观察粒子形状；可直接观察粒子团聚；光学显微镜便宜； 缺点：代表性差；重复性差；要测量投影面积直径；速度慢； 光衍射法粒度测试：根据小颗粒衍射角大，大颗粒衍射角小来测量，同时某一衍射角的光强度与相应粒度的颗粒多少关。 激光衍射0.05—500μm；X光小角衍射 0.002—0.1μm； 所用方法即为投射电子显微镜法；扫描电子显微镜法； 优点：可观察粒径小，图像富有立体感，较真实，易于识别，可观察微区，一般同时进行成分分析。 缺点：造价昂贵，试样制备要求严格，真空度要求严格 原子力显微镜（AFM）： x,y方向分辨率可达到2nm,垂直方向分辨率课达到小于0.1nm. 优点：AFM具有操作客易、样品准备简单、操作环境不受限制、分辨率高等优点 缺点：与SEM相比，成像范围太小，速度慢，受探头的影响太大。 光散射法和消光法 光散射法原理：利用颗粒对激光的散射角度随颗粒粒度而改变的原理测定粒度分布。 消光法原理：通过测定经粉体散射和吸收后光强度在入射方向上衰减确定粒度。符合朗勃比尔定律。 优点：适用于气溶胶和液体分散系、非接触测定、精确给出粒度分布曲线和平均粒度、测定速度快； 电传感法粒度测试：当一个小颗粒通过小孔时所产生的电感应，即电压脉冲与颗粒的体积成正比； 水利分析法—沉降法（用于小于0.1mm物料粒度组成的测定） 测量原理：在具有一定粘度的粉末悬浊液内，大小不等的颗粒自由沉降时，其速度是不同的，颗粒越大沉降速度越快。大小不同的颗粒从同意起点高度同时沉降，经过一定距离（时间）后，几颗将粉末按