半导体芯片测试成本降低方案.pdfVIP

I .? . 事王蒙东.…·…←一一 ..- _ . --- 第事部定岸观筑成本降低~费 .鼎集成电.，..(上海)有限公司 李华 [.. J 蝇电于产 品 自 领 M串 的... . 在产 品品属提高俩对 .产品价格的 下降也越章地被清看重视 . .U 锺电 于产品的 价格 ， 曹先要停筐在心芯片 的生产成 本. 测试费用 是 生产成本的 董事组成 . 某中测试平齿的成事直蟹嘀测试费用 . 本立着重叙述如何用.....本 测试平 ft (.50) ;U. 高成本测试平齿 。750) 的功 1 . 进葡 ~测试成本的降低. E 美.满 2 电子产品 ; 芯片 ; 测试平齿 ( v5O . )750) ; 成事‘ 1 . 引言 低. 3. J750剥V50测试平台介绍 随着半导体测试技术的 不 断发展以及 2 . VQ171OB芯片介绍 3. 1 J750测试平台 对测试成本降低需求的不断 11 升 .各种低成 2 . 1 封装管角图〈见图1) J750是-款离性能 SoC测试平台.可以 本测试平台出现并逐渐取代高成本的测试平 2 . 2 主要功能 很好的满足各种Soc 的测试要求.但是设备 台 的功能.本文通过VQI710B高精度声卡芯 交待44 . 1 K/48K/96K/ 19 2刷 z DAC独立采 的成本极高. 很M配置不同，价格 - Ml 在 片的测试程序开发过程.详细叙述了如何用 样.. 3∞K-5ωK簧金 . 其主要4守住如下 z 低成本测试平台 ( V50) 实现离成本 测试平 内量高品质 E军麦扩音量E 支事商品A!i差分 51 2 OR 1024 1 /0αl8Mel s c∞ figura- 台 (j 750) 的功能 ， 迸而实现测试成本的降 输入ω音频俯号 tlon. AOC路径中的 HPF可切断直流电 l ∞刷 z full formatted (ul1JIul tiplex? 24. zk12 支待 EAPO (External Ampl i fier PO盹r ed)drive and receive 311 协~ ~mu