实验1–4TTL集成与非门电路.docVIP

实验一 TTL集成与非门电路 实验目的 熟悉TTL集成与非门外形及外部引线的排列。 验证TTL与非门的逻辑功能。 试用与非门接成其它几种逻辑门的方法并熟悉它们的逻辑功能。 实验仪器和芯片 双踪示波器 SXJ—3C数字电路学习机 74LS00 实验内容和步骤 熟悉实验设备： 熟悉通用实验箱的结构和使用方法，熟悉74LS00集成块的外形和引线情况。 测量与非门的逻辑功能 将74LS00中的一个与非门的两个输入端分别接到实验箱中的两个电平开关上，输出端接到箱中的逻辑电平指示灯上，接通5V电源和地，按表1—1 完成逻辑功能的测量。并规定高电平为逻辑“1”，低电平为逻辑“0”。 表1—1 输入 输出 A B 测量 状态 预计 状态 0 0 0 1 1 0 1 1 用与非门组成与门、或门、非门、异或门。并测量相应的逻辑功能。用74LS00中的与非门分别接成与门、或门、非门、异或门画出接线图并将测试结果1-2表中，根据表分别写出它们的逻辑表达式。 表1—2 输入 与门输出 或门输出 非门输出 异或输出 A B 测量 状态 预计 状态‘ 测量 状态 预计 状态‘ 测量 状态 预计 状态‘ 测量 状态 预计 状态‘ 0 0 0 1 1 0 1 1 观察控制门的工作 将与非门的一个输入端A作为控制门，接到实验箱的H/L插孔上；另一个输入端B作为信号端，接到实验箱的频率为1~2的时钟脉冲信号发生器CP上，输出接到箱中逻辑电平指示灯上。当扳动扭子开关时，观察指示灯亮灭情况。并用示波器观察A、B点及输出点的波形，了解控制门的作用。 预习内容 复习TTL与非门的工作原理 了解74LS00集成电路的逻辑和引线排列图。 五。实验报告要求 1．要求写出相应的表达式； 2．画出相应的逻辑图； 实验三 双稳态触发器 实验目的 熟悉J—K 触发器及D触发器的外形及外引线排列。 验证基本R—S 触发器、J—K 触发器及D触发器的逻辑功能。 实验仪器设备 图7—1 数字电路实验箱 双踪示波器 万用表 实验内容和步骤 测试基本R—S 触发器的逻辑功能 用74LS00中的两个与非门接成基本R—S 触发器如图7—1 所示。将RD、SD分别接到两个电平开关上，、分别接到两个输出指示灯上，按表7—1 完成功能测试。 J—K触发器逻辑功能 将74LS76的RD、SD、J、K端分别接到实验箱中的电平开关上，、分别接到两个逻辑电平指示灯上。 （1）置位、复位功能测试：J、K端置任意状态，按表7—2 完成测试。 （2） J、K功能测试 将J—K 触发器的CP端接到实验箱的单脉冲源上，按表7—3 完成功能测试。 将J—K 触发器接成计数状态（J=K=1），CP端接到实验箱的时钟脉冲发生器的输出端上（），用示波器观察波形，并将其波形画于表7—3 中。 D触发器功能的测试 （1）置位、复位功能测试 将74LS74 D触发器的RD、SD端分别接电平开关，CP端接手动脉冲源，置D、CP于任意位置，按表7—4 完成RD、SD功能测试。 （2）D功能测试 按表7—5测试D触发器功能。 预习内容 掌握各触发器的逻辑功能。 熟悉74LS00、74LS74、74LS756的引脚功能。 了解J—K 、R—S、D触发器的触发方式。 实验项目 日期 班级 姓名 学号 桌号 同组人 实验记录 表7—1 表7—2 测试条件 测试结果 J、K端 状态 Q原 状态 CP脉冲变化后状态Qn+1 J K 预计态 实测态 预计态 实测态 0 0 0 1 0 1 0 1 1 0 0 1 1 1 0 1 表7—3 表7—4 RD SD Q原态 Q现态 0 1 0 1 1 0 0 1 测试条件 测试结果 D 原状态 CP变化后触发器状态 预计态 实测态 预计态 实测态 0 0