一种FPGA的可编程逻辑单元的全覆盖测试方法 .pdfVIP

学兔兔 第31卷 第4期 仪 器 仪 表 学 报 Vo1．31 No．4 2010年4月 Chinese Joum~l of Scientific Instrument Apr．2010 一 种FPGA的可编程逻辑单元的全覆盖测试方法 廖永波，李 平，阮爱武 (电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室 成都 610054) 摘 要：提出并验证了一种新颖的FPGA中CLB的全覆盖定位测试方法，该方法通过建立基于SOC软硬件协同技术的FPGA 自动测试系统，实现了CLB测试所需要的多次下载不同的配置图形，针对每个配置图形进行测试的需求；该方法通过建立规则 布局CLB串行移位阵列为基础形成的FPGA定位配置图形、以及FPGA自动定位算法，实现了对FPGA中所有CLB的全覆盖测 试以及错误定位。利用本文提出的方法对Xilinx公司XC4010型号FPGA中所有CLB进行了测试，实验结果表明该方法可以实 现FPGA中CLB的全覆盖测试以及错误定位。 关键词：软硬件协同验证；FPGA；CLB；定位；测试 中图分类号：TP206 ．1 文献标识码：A 国家标准学科分类代码：510．3040 Novel scheme for full coverage test of logic resource faults in FPGA Liao Yongbo，Li Ping，Ruan Aiwu (State Key Laboratory of Electronic Films And Integrated Devices，University of Electronic Science And Technology ofChina，Chengdu 610054，China) Abstract：A novel scheme for full coverage test of logic resource faults in FPGA has been studied in this paper．Tak— ing advantage of flexibility and observability of software in conjunction with high-speed simulation of hardware，a SOC CO—verification technology based in—house FPGA functional test algorithm is proposed，which can meet the re— quirement of full coverage test of logic resource faults in FPGA through implementing the process of configuration pat— tern downloading and scanning automatically．In this process，configuration patterns of CLBs are formed regularly and corresponding fault location algorithm is implemented．Experiment results of XC4010E demonstrate that full COY— erage test of logic resource faults can be realized． Key words：SOC co—verification；FPGA；CLB；location；test