GM3测试矿物的方法、技术简介.pdf

第三章 矿物测试的方法、技术简介 现代测试技术在地学领域中的作用： 探知岩石矿物成分和结构的主要方法。 揭示地质演化过程的主要手段。 分析技术是地球科学发展的主要动力之一。 一、矿物测试方法和技术的分类： 形貌分析方法 成分、同位素比值测试方法 结构分析方法 物性分析方法 现代测试分析技术的特点及新进展 最新进展： 1、分析速度超速化 2、分析试样超微量、超微区化(微区原位测试) 3、分析仪器的超小型化 4、多项指标的联测，联用分析技术已成为当前仪器分析 的重要发展方向。如用MC-LA-ICPMS进行 锆石U-Pb年龄－REE －Hf and/ or O同位素的联测 • 注意： • 联测通常比较经济、快捷， 但是一般年龄和同位素联测 的数据精确度和准确度都不如分开测的好。 （一）矿物形貌分析方法 晶体形貌学(crystal microtopography) ： 研究晶体微形貌和生长机制的学科。 手段： 现代光学显微镜（双目镜、相衬显微镜、微分干涉显 微镜和干涉测量）、扫描电子显微镜、扫描探针（如 原子力显微镜）等。 1、相衬显微镜：也称位相差显微镜 （phase difference）：将物体使入射光的位 相差转变为振幅（强度）差，使人眼能辨认出位相差 所反映的物体表面（反射）或内部（透射）的结构细 节。 应用范围： 1） 透射型相衬显微镜 ：晶体内部光学非均质性、测 定薄片的厚度、光性均质体的光面斑痕、晶体中的裂 痕、不透明矿物体复制膜的凹凸。 2）反射型相衬显微镜 ： 晶体生长的表面现象、观察 解理面和断裂面、晶粒界线、薄片的表面形态、测量 极浅的蚀坑、检测抛光面的斑痕等。 相衬显微镜照片 相衬显微镜 2、微分干涉显微镜 (differential interference microscope) ，也称为干涉反差显微镜(interrference contrast microscope) ： 是一种普通偏光显微镜与能产生2种偏光干涉形成色 差的偏光切变干涉计的联合装置。 将光的位相差转变为光的波长差 ，并利用光的干涉作 用形成颜色反差 ，也可表现晶体表面的细微构造。 图象适于作定量测定，能清晰体现表面起伏和微小折 射率变化的立体形态 。 3、 • 扫描电镜从原理上讲就是利用聚焦得非常细的高 能电子束在试样上扫描，激发出各种物理信息。 通过对这些信息的接收、放大和显示成像 ，获得 测试试样表面形貌的观察 。 • 当一束极细的高能入射电子轰击扫描样品表面时 ，被激发的区域将产生二次电子、俄歇电子、特 征x射线和连续谱X射线、背散射电子、透射电子 ，以及在可见、紫外、红外光区域产生的电磁辐 射。同时可产生电子-空穴对、晶格振动（声子) 、电子振荡（等离子体）。 • 扫描电镜成像主要是利用样品表面的微区特征 ，如 形貌、原子序数、化学成分、晶体结构或位向等差 异 ，在电子束作用下产生不同强度的物理信号 ，使 阴极射线管荧光屏上不同的区域呈现出不同的亮度 ，从而获得具有一定衬度的图像 ，常用的包括主要 由二次电子(SE，secondary electron)信号所形成 的形貌衬度像和由背散射电子(BSE， Backscattered Electron)信号所形成的原子序数 衬度像。其分辨率高（3～6nm，最高达2nm）， 放大倍数为 10倍～30万倍。 • 扫描电镜的优点： • ①有较高的放大倍数，20-20万倍之间连续可调； • ②有很大的景深，视野大 ，成像富有立体感 ，可直 接观察各种试样 凹凸不平表面的细微结构 ，如微 古生物的和细小晶体的形貌、矿物的断口、晶面的 生长纹和阶梯等观察及显微分析等。 • ③试样制备简单。 样品可以是光片、不加盖玻璃 的薄片、粉末颗粒或手标本。 牙形石扫描电镜SE像 1、二次电子像（SE）: 二次电子：被入射电子轰击出的试样原子核外电子。 二次电子对试样表面状态非常敏感，能有效地显示 试样表面的微观形貌 。 岩石薄片的SE 2、背散射电子像（BSE） 背散射电子 ：被固体试样原子反射回来的一部分入射 电子，也称为反射电子或初次背散射电子。 由于试样表面物质原子序数 （或化学成分）差