基于FPGA的数字磁通计设计-电测与仪表.doc

基于FPGA的数字磁通计设计* 朱玉玉1，罗卫军1，勾承君2 （1.西南科技大学 信息工程学院，四川 绵阳 621000; 2.四川泰裕机电有限公司，四川 德阳 618508） 摘要：介绍一种基于FPGA的数字磁通计的设计，利用FPGA控制同步采样ADC以固定频率进行采样，在FPGA内部实现了数字滤波、自动校准、自动量程选择、数字积分等功能。相比于模拟磁通计，简化了仪器的操作难度，提高了系统的稳定性。实验表明，其测量值无漂移，测量精度高于0.5%。 关键词：FPGA；数字磁通计；数字积分算法；NIOS-II 中图分类号：TM933 文献标识码：B 文章编号: 1001-1390（2015）03-0000-00 Design digital fluxmeter based on FPGA Zhu Yuyu1, Luo Weijun1, Gou Chengjun2 (1. School of Information Engineering, Southwest University of Science and Technology, Mianyang 621000, Sichuan, China. 2. Sichuan Taiyu Mechanical and Electrical Co., Ltd. Deyang 618508, Sichuan, China) Abstract：This paper introduces a design digital fluxmeter based on FPGA. In the paper, the sequence of synchronous ADC is controlled by FPGA sampling at a fixed frequency,which can realize functions such as digital filtering, automatic calibration, automatic range selection and digital integral. Compared with analog fluxmeter, the design simplifies the operation of instrument and improves the system stability. The experiment results indicate that the accuracy of the digital fluxmeter can reach the range of less than 0.5% with zero drift. Key words: FPGA, digital fluxmeter, digital integral algorithm, NIOS-II 0 引 言 随着我国磁性材料产业的飞速发展，对磁测量仪器的测量精度等指标提出了更高的要求。目前在磁通测量领域，采用运算放大器为核心的电子积分式磁通计得到了广泛应用，但是由于集成运放的输人失调电压、输人失调电流和温漂，电子元件的非理想性如电容的介质损耗和泄露电阻等造成的积分漂移，非线性误差，泄露现象[1]，其存在较大的零点漂移，并且漂移量随着时间增加而增大，严重时，积分误差会导致积分器溢出，使积分器失效[2]。其测量误差大，稳定性差，难以满足磁性材料生产的快速发展。通过选用性能更加优良的运放，电阻，电容等器件能使电子积分的性能得到一定提升[3]，另外，一些在电子积分器的基础上加入一些补偿措施的方案也取得了不错效果[4-5]，但是这些方法是基于RC模拟积分器实现的，有一定局限性。由于模拟器件不一致性和非理想性是不可避免的，导致进一步提高性能十分困难。针对目前模拟磁通计的不足，设计了一种基于FPGA的数字积分式磁通计，用FPGA控制高速同步采样AD芯片以及其他电路工作，并对数据进行实时处理，同时在NIOS-II嵌入式处理器中实现测量结果的计算、显示等功能。本仪器具有较高的集成度，增强了抗干扰性能，实验表明，其测量精度和零点漂移指标均高于普通模拟磁通计，具有很好的应用价值。 1数字磁通计测量原理 1.1 数字积分算法 本测量装置采用Helmholtz线圈[6]作为测量线圈，根据法拉第电磁感应定律，线圈中将产生与磁通量变换率成正比的感应电动势。如果将一个匝数为N的线圈放在被测磁场中，当磁通发生变化时，线圈中会产生感应电动势e： (1) 对式（1）中的e进行积分，即可得到的变化量： (2) 令0时刻磁通量为0，即，得。用若干个等高直角梯形来