恒温晶振-10000MHz质量保证协议20151029.docVIP

质量保证协议 甲方：*****公司 乙方：****电子有限公司 设计师： 设计师： 质量师： 质量师： 日期： 日期： 一、保证1、产品的质量等级 乙方生产供应的各种晶振器件，生产质量保证等级应达到B级，具体要求参照国家军用标准GJB1648-93执行。 2、来料检验规范 对乙方供应的各种晶振器件，根据GJB179A的标准相关内容，傅立叶电子科技采用以下正常抽样检验规范，作为判断批次是否合格的依据。 检验水平： 一般检验水平 质量接收限AQL：0.4技术指标）3、管理 外壳的正面或侧面均应有清晰可见的检验出厂批次号。批次号规则由乙方自定义但必须有年、月的、技术指标±5% VDC 输出驱动能力 ≥ 3 TTL 频率稳定度 参 数 值 单位 参数 年老化率 ≤±0.2 ppm 第1年老化 日老化率 ≤±0.002 ppm 连续工作30天后测试 温度特性 ≤±0.05 ppm -55～85℃ 电压特性 ≤±0.01 ppm Vs±5% 负载特性 ≤±0.01 ppm Load±10% 相位噪声 ≤-135 dBc/Hz @ 1kHz 压控 参 数 值 单位 参数 频率牵引范围 ≥±0.5 ppm 正斜率，线性度≤±10% 压控电压范围 0～3.3V VDC 中心电压：1.65±0.1 V 输入阻抗 ≥100 KΩ 其他 参 数 值 单位 参数 工作电压 5 ± 5% VDC 开机功耗≤4.0 W，工作功耗≤1.5 W 工作温度 -55～+85 ℃ 存储温度 -55～+105 ℃ 外型尺寸 20.5*20.5*10Max. mm 管脚定义 H=10 1 VC 压控 2 Vref 参考电压 3 GND 地 4 OUT 输出 5 VCC 电源 备注：1.晶振内部使用发泡剂加固。 2.随产品交付的出厂报告包括：常温下晶振各项指标的测试报告，厂家根据企业标准进行的试验报告，器件级环境应力筛选试验报告。 3.试验条件见附件1和附件2。 附件1 器件级环境应力筛选试验要求 表1为晶振的试验要求，出厂出具相关试验报告。 表1 晶振筛选项目、试验条件及方法 序号 筛选项目 试验方法、条件。 备注 外观检查 目测，用3~10倍放大镜，无划痕、污垢型号、 清晰 常温初测 室温，按器件规格书中的指标测试。包括输出波形、输出频谱、高低电平、占空比、压控特性、相位噪声、功耗等。 温度特性测试 -（55±0.5）℃~ +（25±0.5）℃ ~ +（85±0.5）℃各保温0.5h。全过程通电测试频率特性值。 在出厂测试报告体现 温度冲击 -（55±3）℃ ~ +（105±2）℃ 各保温0.5h，转换时间≤1min，5次。 温度冲击试验 老化测试 室温，老化10天，取后7天数据按“最小二乘法”计算平均日老化率。 在出厂测试报告体现 常温终检 室温，按器件规格书中的指标测试。包括输出波形、输出频谱、高低电平、占空比、初始准确度、压控特性、相位噪声、功耗等。 在出厂测试报告体现 东莞市东城区立新旧锡边工业区0769-2669081 email:jinzhen@ OCXO