用统计分析技术确定微电极刻度系数控制标准.pdf

维普资讯 测 井 与 射 孔 2002年 ·第 4期 · 实验 研究与分析 · 用统计分析技术确定微电极刻度系数控制标准 顿新忠 (胜利测井公司) 摘 要 ：该文对微 电极测井仪器刻度存在 的问题进行 了分析 ，总结了影响微 电极测井 曲线质量 的原 因，针对这些原因改进 了微 电极刻度方法 ，并对改进方法 的使用效果进行 了分析总结，提 出了刻度系数控 制标准 。 关键词 ：微 电极 刻度 测井仪器 统计分析 1 前言 下井 内刻标 准 电阻 自从数控测井设备取代模拟测井设备 以来 ， 接下井仪 微 电极测井资料 的质量一直不高 ，除了因钻井工 程、钻井液性能等外部 因素影响微 电极测井资料 的质量外 ，微 电极测井仪器本身的刻度方式、方法 也是影 响微 电极测井资料质量的因素。 图 1 微 电极 刻度 原理 图 2 存在问题及原 因分析 二是刻度时测井系统并不与下井仪器连接成一个 微 电极测井资料 的主要 问题是分层不清 。表 整体 ，因此 ，在测井系统绝缘不好 以及其它不利影 现在砂岩无差异 ，泥岩不重合等 ，这些问题是在数 响因素存在 时，尽管刻度很好 ，刻度系数没有 问 控设备取代模拟设备 以后 出现的。地面测井设备 题 ，而仪器刻度不 能发现和消 除测井 系统存在 的 更新后 ，微 电极测井 的测量原理和方法没有变 ，但 问题 ，因而影 响到测井资料 的质量 。 信号传输 、记录的方式发生了变化 ，同时刻度的方 式和方法发生 了较大变化 。JD581仪器 的刻度是 3 用标准 电阻溶液率对仪器系统进 现场标定 k值 ，而 k值是在下井仪器维修时进行 行外刻 调校的，在仪器调校 的过程 中可 以检查发现仪器 是否正常以及绝缘的好坏 。而数控仪则是用 内置 要避免 以上两种 因素 的影 响，提 出了对微 电 标准 电阻及零对微 电极进行 内刻 ，刻度原理见 图 极测井整个系统进行刻度 。用配制高低两个不 同 1。通过标准刻度 电阻计算刻度系数 ，计算公式如 电阻率的溶液池 ，将微 电极下井仪器放入池 内，在 下 ： 测井状态下对整个测井系统进行刻度 。这样可以 RA—kv／i+a 避免标准刻度电阻值不准 的问题 ，同时 ，可以在刻 式 中，R 为标准溶液电阻率 ；、厂为电压 ；i为电流 ； 度 中发现测井系统存在 的不利影 响因素 ，消除系 k和a分别为乘系数和加系数 。数控测井设备用 统 因素 引起 的误差 。为发现和消除不利影 响因 内刻确定 的系数进行测井 ，会存在两个 问题 ： 素 ，确定刻度系数 的范 围并对其实施控制是必须 一 是刻度用标准 电阻的准确性 ，若标准 电阻