201408030313杨航电路实验报告.docx

HUNAN UNIVERSITY 实验名称： 集成门电路功能测试 实验者： 杨 航 班级： 通信1403班 学号： 201408030313 实验日期： 2016年3月23日 实验目的 1．掌握逻辑值与电压值的关系。 2．掌握常用逻辑门电路的逻辑功能及测试方法。 3．熟悉数字电路实验箱的结构、基本功能及使用方法 二、实验内容 1、 基本门电路的逻辑功能测试;观测输入输出端的逻辑值，测量出输出端对应的电压值。 逻辑门的转换:利用74S00与非门组成非门，2输入与门,2输入或门电路。 门电路的基本应用:测试用“异或”门和“与非”门组成的半加器的逻辑功能。 三、实验原理 1.门电路的基本概念 门电路：实现各种逻辑关系的电路 正逻辑系统：高电位用 1 表示，低电位用 0 表示 负逻辑系统：高电位用 0 表示，低电位用 1 表示。 TTL集成门:输出高电平约3.6V，低电平约0.3V CMOS集成门:阈值电压为电源电压的一半，即VCC/2 2. 逻辑门电路模块 输入全为 1 设 VA= VB= 3.6 V VB1升高，足以使 T2 、T5 导通，Vo = 0.3 V,Y = 0 VC2 = VCE2 + VBE5 = 0.3 + 0.7 = 1 V，使 T3 导通，T4 截止。 与非门的逻辑功能：全 1 出 0，有 0 出 1。 3. 输入不全为 1 设: VA= 0.3 V VB= 3.6 V，则 VB1 = 0.3 + 0.7 = 1 V T2 、T5 截止，T3、 T4 导通， VY = 5 –Vbe3 – Vbe4 – VR2 = 5 – 0.7 – 0.7 = 3.6 V T4 与 T3 并联， T1 与 T2 串联； 当 AB 都是高电平时, T1 与 T2 同时导通，T4 与 T3 同时截止；输出 Y 为低电平。 当 AB 中有一个是低电平时，T1 与 T2 中有一个截止，T4 与 T3 中有一个导通，输出 Y 为高电平。 4.集成逻辑电路封装 5.逻辑值的测试： 6.数字电路实验箱图解： 116位0-1电平输出显示; ② 40脚带自紧活动芯片座 ;③双列直插式芯片插座;④ 16位0-1信号开关;⑤ 电阻、电容、整流二极管;⑥ 脉冲信号源 ;⑦ 直流信号源;⑧与计算机通信的串口（9针）⑨ PLCC芯片座（44脚;⑩ 3个不同阻值的电位器; ? 蜂鸣器 7.门电路的转换及应用 74LS00与非门组成非门， 2输入与门, 2输入或门电路 测试用“异或”门和“与非”门组成的半加器 8.实验线路图 四、实验数据 输入或门与门与非门异或门ABYU/VYU/VYU/VYU/V0000.1600.15514.3600.120114.4400.15514.3614.4451014.4400.15514.3714.441114.4413.7500.1900.15输入与或门与非门两个非门与与非门异或门与非门非门ABYYSC输入输出0000000101011010100110111101 五、数据分析 1．对于逻辑值测试，由实验可以验证输出电压高电平确实大于3.6V，低电平小于0.3V，与理论值相符； 2．对于门电路的转换及应用可知： 此电路的作用相当于一个与门； 此电路的作用相当于一个或门； 此电路S端为异或门，C端为与门 与逻辑关系相符。 七、实验心得 1、通过本次实验的学习，我初步学习了数字电路实验电箱的构造与原理以及基本操作，??时掌握逻辑值与电压值的关系，掌握常用逻辑门电路的逻辑功能及测试方法。 2、实验中，电路出现了问题，电路一个接地端出现断路，导致，实验结果出现问题，后通过询问老师及逐个排查，找出问题，并得以解决。 3、实验时不可排除系统误差和偶然误差，所测的实验结果与理论结果有出入，只要在误差允许范围内，则认为实验的数据是正确的。我们应学会尽量减小实验误差而非消除，保证实验的严谨性。 4、测得数据显示，高电平约为4.4V，与实验理论值3.6V相差较大，但是实验过程均正确，所以可能与电箱内部构造有关，也可能是芯片的封装有不同，其他尚未发现原因。